[發明專利]為比較物體尺寸使這些物體位移的裝置及用該裝置比較尺寸的方法有效
| 申請號： | 00802559.2 | 申請日： | 2000-11-02 |
| 公開（公告）號： | CN1335927A | 公開（公告）日： | 2002-02-13 |
| 發明（設計）人： | K·蒂施勒 | 申請（專利權）人： | 布朗和沙普·特薩有限公司 |
| 主分類號： | G01B3/32 | 分類號： | G01B3/32;G01B5/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王勇,王忠忠 |
| 地址： | 瑞士*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 比較 物體 尺寸 這些 位移 裝置 方法 | ||
1.為了通過一個測量儀器(4)比較至少兩個物體(2，3)即參考測厚規及待檢驗的測厚規的尺寸，而使這些測厚規位移的裝置(1)，所述位移裝置(1)包括：
-一個支架，即測量臺(5)，它確定了參考測厚規(2)及待檢驗的測厚規(3)共用的支承及滑動面(P)，及確定了它們涉及測量的面(2A，2B，3A，3B)中的一個面(2A，3A)，
-一個部件(6)，即移動模板，一方面，它位于測量臺(5)的上面及帶有限位框(61A，62A)，后者用于與測厚規的側面(2L，3L)協同作用及將測厚規保持在相對測量儀器(4)確定的位置及方向上，并保護它們自由地支承在測量臺(5)上，及另一方面，它可在該測量臺(5)上移動，該裝置的特征在于：該移動模板(6)由至少兩個不同的部分(61，62)組成，這兩部分能彼此分開地移動，其中：
-第一部分(61)，它包括限位框(61A)，用于在測量臺(5)上在側向保持參考測厚規(2)，及
-至少另一部分，即第二部分(62)，它包括用于在側向保持至少一個待檢驗的測厚規(3)的限位框(62A)。
2.為了通過一個測量儀器(4)比較至少兩個物體(2，3)即參考測厚規及待檢驗的測厚規的尺寸，而使這些測厚規位移的裝置(1)，所述位移裝置(1)包括：
-一個支架，即測量臺(5)，它確定了參考測厚規(2)及待檢驗的測厚規(3)共用的支承及滑動面(P)，及確定了它們涉及測量的面(2A，2B，3A，3B)中的一個面(2A，3A)，
-一個部件(6)，即移動模板，一方面，它位于測量臺(5)的上面及帶有限位框(61A，62A)，后者用于與測厚規的側面(2L，3L)協同作用及將測厚規保持在相對測量儀器(4)確定的位置及方向上，并保護它們自由地支承在測量臺(5)上，及另一方面，它可沿平行于支承面(P)的至少一個軸(A1，A2，A3)移動，以致允許測厚規(2，3)在該測量臺(5)上移動，該裝置的特征在于：該移動模板(6)由至少兩個不同的部分(61，62)組成，這兩部分能彼此分開地移動，其中：
-第一部分(61)，它一方面包括限位框(61A)，用于在測量臺(5)上在側向保持參考測厚規(2)，及另一方面它與沿第一位移軸(A1)導向的裝置(7)協同作用，
-至少另一部分，即第二部分(62)，它一方面包括用于在側向保持至少一個待檢驗的測厚規(3)的限位框(62A)，及另一方面它與沿兩個與測量臺(5)平行的交叉軸(A1，A3)導向的裝置(8)協同作用，這兩個軸(A2，A3)中至少一個軸(A2)與所述第一軸(A1)平行。
3.為了通過一個測量儀器(4)比較至少兩個物體(2，3)即參考測厚規及待檢驗的測厚規的尺寸，而使這些測厚規位移的裝置(1)，所述位移裝置(1)包括：
-一個支架，即測量臺(5)，它確定了參考測厚規(2)及待檢驗的測厚規(3)共用的支承及滑動面(P)，及確定了它們涉及測量的面(2A，2B，3A，3B)中的一個面(2A，3A)，
-一個部件(6)，即移動模板，一方面，它位于測量臺(5)的上面及帶有限位框(61A，62A)，后者用于與測厚規的側面(2L，3L)協同作用及將測厚規保持在相對測量儀器(4)確定的位置及方向上，并保護它們自由地支承在測量臺(5)上，及另一方面，它可沿平行于支承面(P)的至少一個軸(A1，A2，A3)移動，以致允許測厚規(2，3)在該測量臺(5)上移動，該裝置的特征在于：
-該移動模板(6)由至少兩個不同的部分(61，62)組成，這兩部分能彼此分開地移動，其中一個第一部分(61)及至少一個第二部分(62)可并列設置，為此它們面對面地設有用于協同操作的限位邊緣(61B，62B)、即位移部分，以使得當沿兩個平行軸(A1，A2)位移時，兩部分(61，62)中的一個可推動另一部分，
-移動模板(6)的第一部分(61)，它一方面包括限位框(61A)，用于在測量臺(5)上在側向保持參考測厚規(2)，及另一方面它與沿第一位移軸(A1)導向的裝置(7)協同作用，
-移動模板(6)的每個第二部分(62)，它一方面包括用于在側向保持至少一個待檢驗的測厚規(3)的限位框(62A)，及另一方面它與沿兩個與測量臺(5)平行的交叉軸(A1，A3)導向的裝置(8)協同作用，這兩個軸(A2，A3)中至少一個軸(A2)與所述第一軸(A1)平行。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于布朗和沙普·特薩有限公司，未經布朗和沙普·特薩有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/00802559.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
