[發(fā)明專利]為比較物體尺寸使這些物體位移的裝置及用該裝置比較尺寸的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 00802559.2
• 申請日: 2000-11-02
• 公開（公告）號: CN1335927A
• 公開（公告）日: 2002-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: K·蒂施勒
• 申請（專利權(quán)）人: 布朗和沙普·特薩有限公司
• 主分類號: G01B3/32
• 分類號: G01B3/32;G01B5/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 王勇,王忠忠

本發(fā)明涉及為了通過一個測量儀器比較至少兩個物體尺寸而使這些物體位移的裝置及用所述裝置比較尺寸的方法。

本發(fā)明尤其-但不僅僅-涉及測厚規(guī)的尺寸檢驗(yàn)領(lǐng)域，它既可關(guān)系到新的測厚規(guī)也可關(guān)系到已用過的測厚規(guī)。

本發(fā)明的裝置有利地涉及到一個參考測厚規(guī)與相同厚度的待測量測厚規(guī)之間的傳統(tǒng)比較，并也涉及到一個唯一的參考測厚規(guī)與不同厚度的待測量測厚規(guī)之間的比較。

測厚規(guī)是一種至少具有兩個隔開非常精確的距離、即厚度的平行面的物體。

測厚規(guī)是現(xiàn)今使用的極高精度的測量物體，例如使用在機(jī)械制造車間中，尤其用于測量距離。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO?3650，測厚規(guī)是一種有形的量器，通常為矩形橫截面，用耐磨的材料作成，它具有兩個彼此平行的測量平面，它應(yīng)能緊貼在另外測厚規(guī)的測量面上以組合成合并量器，或緊貼在用于測量距離的輔助平面的相同加工精度的平表面上。

同樣根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO?3650，一個測厚規(guī)的厚度按規(guī)定是一個測量面與和另一測量面緊貼的、相同材料及相同表面狀態(tài)的輔助平面的平表面的所有特定點(diǎn)之間的距離。

這種測厚規(guī)經(jīng)常被操作及放置成一個測厚規(guī)與另一測厚規(guī)相接觸和/或與另外物體相接觸。

這種接觸將引起確定其厚度的測厚規(guī)面的逐漸磨損。

這種磨損，雖然本身很小，但改變了測厚規(guī)厚度及引起測量誤差。

因此必需對測厚規(guī)作周期性的檢驗(yàn)，以便使具有異常磨損的測厚規(guī)可被確定部位并從使用中排除。

為了檢驗(yàn)，進(jìn)行比較是公知的，即已使用的每個測厚規(guī)的確定其厚度的對立面的距離作為一方與一個參考測厚規(guī)的對立面的距離作為另一方相互比較。

傳統(tǒng)上，一個測厚規(guī)的厚度測量是在多對點(diǎn)的點(diǎn)之間進(jìn)行的，例如對于一個平行直六面體，在兩個對立面的對角線的頂端的點(diǎn)之間及在這些面的對角線的交點(diǎn)之間進(jìn)行測量。

為此，使用了一種裝置，它包括：

-一個支架，即測量臺，它確定了一個參考測厚規(guī)及待檢驗(yàn)的測厚規(guī)共用的支承及滑動面，及確定了它們涉及測量的面中的一個面，

-一個部件，即移動模板，一方面，??它位于測量臺的上面及帶有限位框，后者用于與測厚規(guī)的側(cè)面協(xié)同作用及將測厚規(guī)保持在相對測量儀器確定的位置及方向上，并保護(hù)它們自由地支承在測量臺上；另一方面，被一個沿平行于支承面的兩個交叉軸導(dǎo)向的裝置帶動，以允許這些測厚規(guī)同時移動。

最好，該裝置包括一個沿一個特定軌跡使移動模板位移的輔助導(dǎo)向裝置，用于引導(dǎo)兩個測厚規(guī)的同時位移，以致允許：

-將參考測厚規(guī)放置到測量儀器的兩個測隙機(jī)構(gòu)之間，以便通過將所述每個測隙機(jī)構(gòu)支承在測厚規(guī)的對立面中的一個上而允許在該測厚規(guī)上得到一個記錄，

-使參考測厚規(guī)位移及使待檢驗(yàn)的測厚規(guī)位移，以使得它們彼此互換位置及將待檢驗(yàn)的測厚規(guī)放置在所述測隙機(jī)構(gòu)之間，及依次地移動到每個記錄位置上。

裝有這種位移裝置的測量儀器是極其可靠的，及它的使用既簡單又快速。

這種現(xiàn)有技術(shù)的裝置可給出好的測量結(jié)果，但是它因引起每個參考測厚規(guī)一定的磨損而備受責(zé)備，這是由于在對待檢驗(yàn)的測厚規(guī)作測量時參考測厚規(guī)一直保持與測量臺接觸。

本發(fā)明力求達(dá)到的目的正是一種測厚規(guī)的位移裝置，它不但具有公知裝置的優(yōu)點(diǎn)，而且可顯著地降低參考測厚規(guī)的磨損。

為此，本發(fā)明旨在提出一種位移裝置，其主要特征在于：移動模板由至少兩個不同的部分組成，這兩部分能彼此分開地移動，其中：

-第一部分，它包括限位框，用于在測量臺上在側(cè)向保持參考測厚規(guī)，及

-至少另一部分，即第二部分，它包括用于在側(cè)向保持至少一個待檢驗(yàn)的測厚規(guī)的限位框。

本發(fā)明還旨在提出一種借助上述位移裝置比較尺寸的方法。

在讀到以下參照概要表示的附圖以非限制性例作出的說明后，將會對本發(fā)明有很好的理解，附圖為：

圖1：本發(fā)明的裝置的俯視圖，

圖2：本發(fā)明的裝置的側(cè)視圖，

圖3A至3C：在三個使用階段中的本發(fā)明的裝置的縮小俯視圖。

參照附圖，其中表示了一個至少使兩個物體、即量規(guī)2，3位移的裝置1，用于借助一個測量儀器4來比較這些量規(guī)的尺寸。

更具體地，這些物體2，3是測厚規(guī)，這就是說，它們是各至少具有兩個隔開非常精確的距離-即厚度-的平行面2A，2B，3A，3B的量規(guī)。

在以下的說明中，將使用名詞“測厚規(guī)”，以總地代表具有兩個隔開確定距離的面2A，2B，3A，3B的物體。