[發明專利]耳溫計探測罩蓋及其制造方法

無效

• 申請號: 00129803.8
• 申請日: 2000-09-29
• 公開（公告）號: CN1344920A
• 公開（公告）日: 2002-04-17
• 發明（設計）人: 黃幼謙
• 申請（專利權）人: 熱映光電股份有限公司
• 主分類號: G01K1/08
• 分類號: G01K1/08
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉領弟

本發明屬于醫療器具部件及其制造方法，特別是一種耳溫計探測罩蓋及其制造方法。

在疾病的診斷過程中，醫用溫度計經常提供極大的幫助。在所有的測量部位中，耳膜的溫度比口腔、直腸或腋下的溫度更能代表身體內部的溫度。目前通常藉由偵測耳道中從耳膜放射出的紅外線輻射來測量耳膜的溫度。另外，使用紅外線溫度計為病患者量體溫時，所需的測量時間也較短。因此，紅外線耳溫計的使用越來越普遍。

為了測量耳道中的紅外線輻射，耳溫計的探測部前段需伸入外耳道中，方能感測耳膜發出的紅外線輻射，藉以測量耳溫。然而使用紅外線耳溫計測量不同疾病患者的體溫時，很可能造成污染及疾病的傳染，為了防止這種情況發生，紅外線耳溫計的探測部外均套設有一次性罩蓋，于每測量過一位患者后，便將使用過的罩蓋丟棄，并于探測部外套設新的罩蓋后再對下一患者進行測量。

美國專利5163418公開了如圖1所示的耳溫計探測罩蓋，其包括罩套31及環狀基底32。

罩套31系由一片厚度約0.001英寸紅外線可穿透式膜片制成，罩套31的封閉端形成平整狀，并構成紅外線窗口區311，其周壁312呈褶疊狀。

環狀基底32呈與溫度計探測部相對應并密合狀。

罩套31以其開放端的周圍黏著于環狀基底32上。當將罩蓋的基底32套于紅外線耳溫計探測部時，使罩套31的紅外線窗口區311平貼于紅外線耳溫計探測部前端入口。

這種形式罩蓋的缺點為當罩蓋進入耳道中時，不僅因罩套周壁312的褶疊痕會刮到耳道表皮，令人感到非常不舒服，而且罩套32本身受擠壓時會發出相當大的噪音。另外，將此種形式的罩蓋套設于紅外線耳溫計探測部時，其罩套31上的紅外線窗口區311可能會出現皺摺，導致紅外線的雜散輻射(StrayRadiation)而影響所測溫度的準確性。

美國專利5088834公開了如圖2所示的耳溫計探測罩蓋，其包括一體成形的平截頭形罩套41及基底42。

罩套41系由紅外線可穿透式材料一體制成并與紅外線耳溫計的探測部相互吻合，其自開放端至遠側封閉端的厚度呈漸薄狀，以使得位于遠側封閉端的紅外線窗口區411的厚度約0.001至0.0005英寸之間而為最薄狀。基底42接合在罩套41近側開放端周圍，用來將罩蓋固定在紅外線耳溫計的探測部上。此種結構的罩蓋因無褶痕，使用上較為舒適。但其亦存在缺點，即：因罩套41系由開放端藉材料加壓塑性變形延展到封閉端，其塑性變形距離甚長，其厚度約自0.03英寸漸縮至0.0005英寸，在制造過程中品質的控制較為困難。

本發明的目的是提供一種使用舒適、測溫準確、制造加工容易、便于控制產品質量的耳溫計探測罩蓋及其制造方法。

本發明罩蓋包括罩套及環狀基底；罩套系為厚度約0.001英寸紅外線可穿透式的具有開放端及形成平面視窗封閉端的套體，其外周面為平整面；罩套以開放端與環狀基底結合；

本發明罩蓋制造方法包括下列步驟：

步驟一

形成可令紅外線穿透的膜片；

步驟二

使用罩套模藉由高壓氣體形成具封閉端及開放端罩套胚，封閉端形成平面視窗，外周面由開放端至封閉端形成復數余料；

步驟三

將余料熱壓形成凸片；

步驟四

切除凸片形成具有平整外周面的罩套；

步驟六

以罩套的開放端與環形基座結合。

其中：

罩套外周面為光滑的平整面，其內周面有制造過程中遺留的切痕。

罩套外周面為有制造過程中遺留的甚微小切痕的平整面。

使用的罩套模與耳溫計探測部形狀相近，其具有封閉端及開放端，自開放端至封閉端的圓周面軸向均設數條狹長開口；將罩套模置于膜片上，并由罩套模開放端向模片以高壓空氣施壓，令膜片多余的材料自罩套模圓周面上數條開口壓出。

步驟四與步驟六之間還包括步驟五；其為將罩套翻面，以將罩套遺留有數個切痕的外周面翻轉成內周面，以形成光滑外周面的平整外周面。