[發明專利]耳溫計探測罩蓋及其制造方法無效
| 申請號: | 00129803.8 | 申請日: | 2000-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN1344920A | 公開(公告)日: | 2002-04-17 |
| 發明(設計)人: | 黃幼謙 | 申請(專利權)人: | 熱映光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01K1/08 | 分類號: | G01K1/08 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人: | 劉領弟 |
| 地址: | 臺灣省*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 耳溫計 探測 及其 制造 方法 | ||
1、一種耳溫計探測罩蓋,它包括罩套及環狀基底;罩套系為厚度約0.001英寸紅外線可穿透式的具有開放端及封閉端的套體,其封閉端形成平面視窗,罩套的截面由開放端向封閉端呈漸縮小狀;罩套以開放端與環狀基底結合;其特征在于所述罩套外周面為平整面。
2、根據權利要求1所述的耳溫計探測罩蓋,其特征在于所述的罩套外周面為光滑的平整面,其內周面有制造過程中遺留的切痕。
3、根據權利要求1所述的耳溫計探測罩蓋,其特征在于所述的罩套外周面為有制造過程中遺留的甚微小切痕的平整面。
4、一種耳溫計探測罩蓋的制造方法,其特征在于它包括下列步驟:
步驟一
形成可令紅外線穿透的膜片;
步驟二
使用罩套模藉由高壓氣體形成具封閉端及開放端罩套胚,封閉端形成平面視窗,外周面由開放端至封閉端形成復數余料;
步驟三
將余料熱壓形成凸片;
步驟四
切除凸片形成具有平整外周面的罩套;
步驟六
以罩套的開放端與環形基座結合。
5、根據權利要求4所述的耳溫計探測罩蓋的制造方法,其特征在于所述的步驟二使用的罩套模與耳溫計探測部形狀相近,其具有封閉端及開放端,自開放端至封閉端的圓周面軸向均設數條狹長開口;將罩套模置于膜片上,并由罩套模開放端向模片以高壓空氣施壓,令膜片多余的材料自罩套模圓周面上數條開口壓出。
6、根據權利要求4所述的耳溫計探測罩蓋的制造方法,其特征在于所述的步驟四與步驟六之間還包括步驟五;其為將罩套翻面,以將罩套遺留有數個切痕的外周面翻轉成內周面,以形成光滑外周面的平整外周面。
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