[發明專利]能減少負荷和時間的電路塊測試模型的產生方法及設備

無效

• 申請號: 00109030.5
• 申請日: 2000-06-02
• 公開（公告）號: CN1276534A
• 公開（公告）日: 2000-12-13
• 發明（設計）人: 大塚重和
• 申請（專利權）人: 日本電氣株式會社
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 穆德駿,方挺

1.用于產生測試模型以對半導體器件的至少一個電路塊(24-1，24-2，24-3)進行測試的方法，該半導體器件含有與上述電路塊相連的控制電路(21)，上述方法的特征在于包括這樣的一個步驟，即，通過以與上述控制電路的特性相對應的數據轉換庫(12)作為參考，來為上述電路塊轉換出公用測試模型(11)，從而生成上述測試模型。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，上述控制電路的特性包括位數、指令代碼和信號序列。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于上述半導體器件包括：

連接在上述控制塊與上述控制電路之間的外圍總線(PB)；

測試數據端(TDi)；以及

連接在上述測試數據端與上述外圍總線之間的測試電路(22)。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于上述公用測試模型被專門指定用于上述外圍總線，而且上述公用測試模型是通過參考上述測試數據端的位數而被轉換成上述測試模型的。

5.如權利要求3所述的方法，其特征在于上述公用測試模型被專門指定用于上述外圍總線，而且上述公用測試模型是通過參考上述電路塊的功能參數而被轉換成上述測試模型的。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于上述公用測試模型的地址分量被轉換成指定給上述電路塊的地址。

7.如權利要求5所述的方法，其特征在于上述公用測試模型的端口分量被轉換成指定給上述電路塊的端口分量(MSj)。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于上述半導體器件包括一個單片機，上述控制電路包括一個中央處理單元。

9.用于產生測試模型以對半導體器件的至少一個電路塊(24-1，24-2，24-3)進行測試的裝置，該半導體器件含有一個與上述電路塊相連的控制電路(21)，上述裝置的特征在于包括：

一公用測試模型文件(11)，用于為上述電路塊保存公用測試模型；

一數據轉換庫(12)，用于保存上述控制電路的公用測試模型；以及

一連接在上述公用測試模型文件與上述數據轉換庫之間的測試模型轉換器(15)，其以上述控制電路的特性為參考，通過對上述公用測試模型之一進行轉換，從而產生上述測試模型。

10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于上述控制電路的特性包括位數、指令代碼和信號序列。

11.如權利要求9所述的裝置，其特征在于上述半導體器件包括：

連接在上述控制塊與上述控制電路之間的外圍總線(PB)；

測試數據端(TDi)；以及

連接在上述測試數據端與上述外圍總線之間的測試電路(22)。

12.如權利要求11所述的裝置，其特征在于上述公用測試模型被專門指定用于上述外圍總線，而且上述公用測試模型之一是通過參考上述測試數據端的位數而被轉換成上述測試模型的。

13.如權利要求11所述的裝置，其特征在于上述公用測試模型之一被專門指定用于上述外圍總線，而且上述裝置還包括產品參數文件(13)，它用于為上述電路塊保存一個功能參數，這樣上述公用測試模型之一就可通過參考上述電路塊的這個功能參數而被轉換成上述測試模型。

14.如權利要求13所述的裝置，其特征在于上述電路塊的功能參數含有指定給上述電路塊的地址，這樣上述公用測試模型之一的一個地址分量就被轉換成指定給上述電路塊的地址。

15.如權利要求13所述的裝置，其特征在于上述電路塊的功能參數含有一個指定給上述電路塊的端口分量(MSj)，這樣上述公用測試模型之一的一個端口分量就被轉換成指定給上述電路塊的端口分量。

16.如權利要求9所述的裝置，其特征在于上述半導體器件包括一個單片機，上述控制電路包括一個中央處理單元。

17.如權利要求9所述的裝置，其特征在于上述公用測試模型文件和上述數據轉換庫包含在單個存儲器中。

18.如權利要求13所述的裝置，其特征在于，上述公用測試模型文件、上述數據轉換庫和上述產品參數文件包含在單個存儲器中。