[其他]原位粒徑測量儀無效
| 申請號: | 87100685 | 申請日: | 1987-02-12 |
| 公開(公告)號: | CN87100685A | 公開(公告)日: | 1987-08-26 |
| 發明(設計)人: | 詹姆斯·馬丁·奈茲奧利克;詹姆斯·菲那茲·薩頓三世 | 申請(專利權)人: | 燃燒工程有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/02 | 分類號: | G01N15/02;G01N15/00;G01N21/85 |
| 代理公司: | 中國專利代理有限公司 | 代理人: | 吳增勇,許新根 |
| 地址: | 美國康*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | 對存在于流質中的粒子同時進行粒徑分布和容積密度現場測量的粒徑測量儀。其包括激光源14,激光傳輸裝置40,校正器,第一聚焦裝置64,待測粒子通過的取樣通道74,第二聚焦裝置78和檢測裝置82。其操作方式是源14的激光通過裝置40傳到校正器,經校正傳至裝置64,經聚焦穿過通道74,在此期間,由于其內的粒子而引起散射。散射和校正光均由裝置78捕集而聚集到裝置82上,由其采集激光強度分布,由此光強分布導出粒徑分布并由預定方程算出容積密度。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 原位 粒徑 測量儀 | ||
【主權項】:
1、用于獲得(存在于某種流體物質中的)粒子大小的測量結果的粒徑測量儀,其特征在于包括:a.一個探頭部分,其內形成有一個聚樣通道,包含待測粒子的流動物質流過該通道;b.一個光源,能用于產生包括多根單獨光線的一束光;c.與所述光源光學耦合的光傳輸裝置,所述光傳輸裝置能傳輸來自所述光源的光束;d.第一聚焦裝置,該裝置安裝在所述探頭部分內,被置于所述取樣通道的一個側面上,所述第一聚焦裝置被光學耦合到所述光傳輸裝置,以便從那里接收光束,所述第一聚焦裝置為如此聚集穿過所述取樣通道的光束而起作用,以致當該光束穿過所述取樣通道時,包含在所述取樣通道內的流體物質中的粒子能夠引起該光束的各光線的散射;e.第二聚焦裝置,該裝置安裝在所述探頭部分內,被置于所述取樣通道的另一側面上并與所述第一聚焦裝置對齊,所述第二聚焦裝置能捕獲在其穿過所述取樣通道過程中被散射了的光線;和f.檢測裝置,該裝置被光學耦合到所述第二聚焦裝置,用以接收來自第二聚焦裝置的散射的和校正光線,所述檢測裝置能根據所接收的散射光線光強而產生與(光線穿過所述取樣通道時,引起其散射的)粒子大小有關的信號。
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