[其他]原位粒徑測量儀

無效

• 申請號: 87100685
• 申請日: 1987-02-12
• 公開（公告）號: CN87100685A
• 公開（公告）日: 1987-08-26
• 發明（設計）人: 詹姆斯·馬丁·奈茲奧利克;詹姆斯·菲那茲·薩頓三世
• 申請（專利權）人: 燃燒工程有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N15/00;G01N21/85
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 吳增勇,許新根

1、用于獲得(存在于某種流體物質中的)粒子大小的測量結果的粒徑測量儀，其特征在于包括：

a.一個探頭部分，其內形成有一個聚樣通道，包含待測粒子的流動物質流過該通道；

b.一個光源，能用于產生包括多根單獨光線的一束光；

c.與所述光源光學耦合的光傳輸裝置，所述光傳輸裝置能傳輸來自所述光源的光束；

d.第一聚焦裝置，該裝置安裝在所述探頭部分內，被置于所述取樣通道的一個側面上，所述第一聚焦裝置被光學耦合到所述光傳輸裝置，以便從那里接收光束，所述第一聚焦裝置為如此聚集穿過所述取樣通道的光束而起作用，以致當該光束穿過所述取樣通道時，包含在所述取樣通道內的流體物質中的粒子能夠引起該光束的各光線的散射；

e.第二聚焦裝置，該裝置安裝在所述探頭部分內，被置于所述取樣通道的另一側面上并與所述第一聚焦裝置對齊，所述第二聚焦裝置能捕獲在其穿過所述取樣通道過程中被散射了的光線；和

f.檢測裝置，該裝置被光學耦合到所述第二聚焦裝置，用以接收來自第二聚焦裝置的散射的和校正光線，所述檢測裝置能根據所接收的散射光線光強而產生與(光線穿過所述取樣通道時，引起其散射的)粒子大小有關的信號。

2、如權利要求1所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述光源包括一個激光器。

3、如權利要求2所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述激光器包括一個氦氖激光器。

4、如權利要求2所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述激光器包括一個半導體激光器。

5、如權利要求2所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述光傳輸裝置包括一根光纜。

6、如權利要求5所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第一聚焦裝置包括一個第一消色差透鏡。

7、如權利要求6所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第一聚焦裝置還包括一個第一透鏡支承裝置，以將所述第一消色差透鏡安裝固定在所述探頭部分內，所述第一透鏡支承裝置具有一個在其內形成的，通過光束的第一孔。

8、如權利要求7所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第二聚焦裝置包括一個第二消色差透鏡。

9、如權利要求8所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第二聚焦裝置進一步包括一個用以將所述第二消色差透鏡安裝固定在所述探頭部分的第二透鏡支承裝置，所述第二透鏡支承裝置具有一個在其內形成的用以接收散射光線的第二孔。

10、如權利要求9所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第二消色差透鏡比所述第一消色差透鏡要大。

11、如權利要求10所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述第二孔要比所述第一孔大。

12、如權利要求11所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述檢測裝置包括一個其內形成有多個徑向環的環狀部件。

13、如權利要求12所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述檢測裝置也包括多組光纜，所述光纜組的每一個被光學耦合到所述環狀部件的所述多個徑向環之一。

14、如權利要求13所述的粒徑測量儀，特征在于其中所述檢測裝置進一步包括多個光電二極管，所述多個光電二極管之每一個被光學耦合到所述多個光纜組之一。

15、對存在于流體物質中的粒子進行測量的方法，特征在于包括如下步驟：

a.產生包含許多單獨光線的一束光;

b.對穿過包含待測粒子的流體物質（因該流體物質中的粒子而引起光束的多光線散射）的光束進行聚焦;

c.接收該散射光線;

d.將該散射光線聚焦到一個檢測器上;及

e.產生根據該散射光線的光強（其對應于引起光線散射的粒子大?。┑男盘枴?/p>

16、如權利要求15所述的對存在于流體物質中的粒子進行測量的方法，特征在于其中的光束是由氦氖激光器產生的。

17、如權利要求15所述的對存在于流體物質中的粒子進行測量的方法，特征在于其中的光束是由半導體激光器產生的。