[其他]熱分析裝置無效
| 申請號： | 86108245 | 申請日： | 1986-12-22 |
| 公開（公告）號： | CN86108245A | 公開（公告）日： | 1987-07-01 |
| 發明（設計）人： | 松本慎吾;內池光正 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N25/00 | 分類號： | G01N25/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 欒本生 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一種輸出端具有補償裝置的熱分析裝置，設有輸出隨檢測裝置輸出的樣品溫度電壓而變化的非線性電壓的折線函數電壓發生裝置。與此同時還設有乘法裝置，把折線函數電壓同檢測裝置檢測的溫差電壓相乘；或設有分壓裝置，以折線函數電壓為控制電壓產生一個與檢測裝置靈敏度特性對稱的可變阻抗裝置，對檢測裝置輸出的溫差電壓進行分壓。用本發明可補償檢測靈敏度的溫度依賴性，使得能夠正確地進行熱分析。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 分析 裝置 | ||
【主權項】：
本熱分析裝置的特征在于包括檢測裝置和折線函數電壓發生裝置，檢測裝置將具有熱量檢測靈敏度隨加熱爐的加熱溫度上升而降低特性的標準物質與樣品的溫度差及樣品溫度分別輸出；折線函數電壓發生裝置輸出隨上述檢測裝置輸出的樣品溫度電壓的增加而變化的非線性電壓；同時，還具有乘法運算裝置或分壓裝置，乘法運算裝置把上述折線函數電壓發生裝置發生的電壓與上述檢測裝置檢測的標準物質與樣品的溫差電壓進行乘法運算，分壓裝置以上述折線函數電壓發生裝置發生的電壓為控制電壓，通過可變阻抗裝置把上述檢測裝置輸出的標準物質與樣品的溫差電壓進行分壓，可變阻抗裝置的內阻可以隨上述控制電壓的振幅而變換為具有與上述檢測裝置的檢測靈敏度特性對稱的特性。
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