[其他]熱分析裝置

無效

• 申請號: 86108245
• 申請日: 1986-12-22
• 公開（公告）號: CN86108245A
• 公開（公告）日: 1987-07-01
• 發明（設計）人: 松本慎吾;內池光正
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N25/00
• 分類號: G01N25/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 欒本生

本發明是關于在輸出端備有補償裝置的熱分析裝置，補償裝置對檢測裝置檢測靈敏度的溫度依賴性進行補償。

例如，對于高分子物質的狀態變化的分析，大多使用熱流束型示差熱量測定裝置。在這種裝置中，把插入樣品的樣品容器和插入標準物質的標準容器放在置于加熱爐內的傳熱板上，以一定的升溫速度使之加熱，在此過程中發生的樣品吸熱和發熱現象所引起的熱能的傳遞和接收通過傳熱板進行，與此同時，對由兩個熱電偶構成的檢測裝置檢測到的示差熱量進行測定。

在這種裝置中，由于傳遞和接收熱能的傳熱板的熱傳導率隨溫度上升而變化，并且熱傳遞還受到與周圍溫度相對應的輻射、對流等因素的影響，所以，兩個熱電偶構成的檢測裝置對樣品的吸熱和發熱的檢測靈敏度表現出隨加熱溫度上升而降低的特性。因此，表示樣品吸熱和發熱的峰值波形的振幅就隨加熱溫度的上升而減小。因此，盡管采取了在加熱爐的上、下面復蓋有光澤的均熱磚塊以防止檢測裝置熱逃逸的措施，但是，既然是一邊使加熱爐的加熱溫度以一定速度上升，一邊進行測定，就不可能與周圍溫度的變化無關，所以，輸出峰值波形的振幅隨溫度而變化的問題依然存在。

鑒于上述問題，本發明的目的是提供一種經過改進的熱分析裝置，在檢測裝置的輸出端對其檢測靈敏度進行補償，使之不受周圍溫度的影響。

也就是說，本發明的特征是：設有檢測裝置和折線函數電壓發生裝置，檢測裝置將表示熱量檢測靈敏度隨加熱爐加熱溫度上升而降低特性的標準物質同樣品的溫差及樣品溫度分別輸出，折線函數電壓發生裝置輸出隨上述檢測裝置輸出的樣品溫度電壓的增加而變化的非線性電壓，與此同時，還具有乘法運算裝置或分壓裝置，乘法運算裝置把上述折線函數電壓發生裝置發生的電壓同上述檢測裝置檢測的標準物質與樣品的溫差電壓進行乘法運算，分壓裝置以上述折線函數電壓發生裝置發生的電壓為控制電壓，通過其內阻可隨上述控制電壓振幅變化，變換為具有與上述檢測裝置檢測靈敏度特性對稱特性的可變阻抗裝置，對上述檢測裝置輸出的標準物質與樣品的溫差電壓進行分壓。

在把熱量檢測靈敏度隨加熱爐的加熱溫度的增加而降低的檢測裝置檢測的標準物質與樣品的溫差電壓輸給乘法運算裝置的同時，把電壓增加率隨檢測裝置檢測的樣品溫度電壓的上升而變化的非線性電壓為補償電壓，也輸給乘法運算裝置，通過將補償電壓同標準物質與樣品的溫差電壓進行乘法運算，對標準物質與樣品溫差電壓峰值面積的減小進行補償。

另外，以上述非線性電壓為控制電壓輸給可變阻抗裝置的控制極，通過該控制電壓，使可變阻抗裝置的內阻獲得與檢測裝置檢測靈敏度對稱的特性，從而輸出經過補償的不受檢測裝置熱量檢測靈敏度影響的標準物質與樣品的溫差電壓。

第1圖是本發明的一個實施例的結構圖，第2圖（A）是熱電偶的熱量檢測靈敏度特性曲線圖和吸熱與發熱的峰值波形圖，第2圖（B）是折線函數電壓發生器的輸出電壓波形圖。

第3圖是本發明的另一實施例裝置的結構圖，第4圖（A）是熱電偶的吸熱與發熱的熱量檢測靈敏度特性曲線和經場效應晶體管補償后的內阻特性曲線圖，第4圖（B）是未經場效應晶體管補償過的內阻特性曲線圖和折線函數電壓發生器的輸出電壓波形圖。在圖中：

1……加熱爐

5、5′……熱電偶

7、8、9……折線函數電壓發生器

12……乘法運算器

15……場效應晶體管

下面，根據附圖所示的實施例對本發明作詳細說明。