[其他]壓電陶瓷伸縮特性精密測(cè)量裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86107253 | 申請(qǐng)日： | 1986-10-21 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN86107253A | 公開(kāi)（公告）日： | 1988-05-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 裘惠孚;侯文玫 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 北京機(jī)械工業(yè)管理學(xué)院分部 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/00 | 分類號(hào)： | G01N21/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 冶金專利事務(wù)所 | 代理人： | 侯文泰,吳甘棠 |
| 地址： | 北京市*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一個(gè)用交流比相干涉儀來(lái)測(cè)量壓電陶瓷伸縮特性的裝置。干涉儀兩個(gè)光臂的反射鏡固定在待測(cè)的壓電陶瓷上，測(cè)量是無(wú)接觸式，可以得到高穩(wěn)定性，高精度的測(cè)量。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 壓電 陶瓷 伸縮 特性 精密 測(cè)量 裝置 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
1、一個(gè)測(cè)量壓電陶瓷伸縮特性的裝置，帶有通電裝置的待測(cè)壓電陶瓷塊，置于測(cè)微儀的測(cè)量頭上，其特征在于：測(cè)微儀是一個(gè)交流比相干涉儀，測(cè)量頭就是干涉儀的測(cè)量臂。
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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