[其他]壓電陶瓷伸縮特性精密測量裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 86107253 | 申請日： | 1986-10-21 |
| 公開（公告）號： | CN86107253A | 公開（公告）日： | 1988-05-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 裘惠孚;侯文玫 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京機械工業(yè)管理學(xué)院分部 |
| 主分類號： | G01N21/00 | 分類號： | G01N21/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 冶金專利事務(wù)所 | 代理人： | 侯文泰,吳甘棠 |
| 地址： | 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 壓電 陶瓷 伸縮 特性 精密 測量 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1、一個測量壓電陶瓷伸縮特性的裝置，帶有通電裝置的待測壓電陶瓷塊，置于測微儀的測量頭上，其特征在于：測微儀是一個交流比相干涉儀，測量頭就是干涉儀的測量臂。
2、按照權(quán)利要求1的測量裝置，待測壓電陶瓷一端固定，另一端與干涉儀測量臂的反射鏡相連接。
3、按照權(quán)利要求1、2的測量裝置，其特征在于干涉儀的參考臂的反光鏡固定于無通電裝置的與待測的壓電陶瓷塊完全相同的壓電陶瓷塊上。
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G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
