[其他]X光檢測(cè)儀無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86104400 | 申請(qǐng)日： | 1986-07-05 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN86104400A | 公開(kāi)（公告）日： | 1988-02-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 埃德溫·喬治·約翰遜 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 戈林·克爾公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N23/00 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N23/00;G01N23/12 |
| 代理公司： | 中國(guó)專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人： | 吳秉芬 |
| 地址： | 英國(guó)英格蘭半伯*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | 在應(yīng)用X光的一種檢測(cè)儀中，有多個(gè)導(dǎo)光器，各導(dǎo)光器的一端與一個(gè)線(xiàn)性熒光帶狀物毗鄰，導(dǎo)光器的另一端成圓形排列。還有可轉(zhuǎn)動(dòng)的裝置可依次探測(cè)導(dǎo)光器的各圓形排列端并把光從該圓形排列端導(dǎo)向一個(gè)光敏元件上。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
1、一種檢測(cè)X光用的檢測(cè)儀，其特征在于所說(shuō)的檢測(cè)儀包括：一對(duì)X射線(xiàn)敏感的熒光元件；多個(gè)導(dǎo)光器，各導(dǎo)光器的一端處在可以接收所說(shuō)的熒光元件發(fā)出的光的位置上，該端有規(guī)律地成直線(xiàn)排列，所說(shuō)的諸導(dǎo)光器的另一端則成圓形排列；一可轉(zhuǎn)動(dòng)的裝置設(shè)在所說(shuō)的導(dǎo)光器的圓形排列端附近，用以順次探測(cè)所說(shuō)的各導(dǎo)光器的圓形排列端，并把光從那里導(dǎo)向一個(gè)單獨(dú)的光敏元件上。
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線(xiàn)、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線(xiàn)輻照樣品以及測(cè)量X射線(xiàn)熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線(xiàn)、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線(xiàn)輻照樣品以及測(cè)量X射線(xiàn)熒光
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
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