[其他]X光檢測(cè)儀無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86104400 | 申請(qǐng)日: | 1986-07-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN86104400A | 公開(kāi)(公告)日: | 1988-02-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 埃德溫·喬治·約翰遜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 戈林·克爾公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/00 | 分類號(hào): | G01N23/00;G01N23/12 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理有限公司 | 代理人: | 吳秉芬 |
| 地址: | 英國(guó)英格蘭半伯*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) | ||
1、一種檢測(cè)X光用的檢測(cè)儀,其特征在于所說(shuō)的檢測(cè)儀包括:一對(duì)X射線敏感的熒光元件;多個(gè)導(dǎo)光器,各導(dǎo)光器的一端處在可以接收所說(shuō)的熒光元件發(fā)出的光的位置上,該端有規(guī)律地成直線排列,所說(shuō)的諸導(dǎo)光器的另一端則成圓形排列;一可轉(zhuǎn)動(dòng)的裝置設(shè)在所說(shuō)的導(dǎo)光器的圓形排列端附近,用以順次探測(cè)所說(shuō)的各導(dǎo)光器的圓形排列端,并把光從那里導(dǎo)向一個(gè)單獨(dú)的光敏元件上。
2、根據(jù)權(quán)利要求1提出的檢測(cè)儀,其特征在于,所說(shuō)的熒光元件是細(xì)長(zhǎng)的熒光帶狀物,所說(shuō)的諸導(dǎo)光器沿所說(shuō)的熒光帶狀物的軸向成單行排列。
3、根據(jù)權(quán)利要求2提出的檢測(cè)儀,其特征在于,所說(shuō)的諸導(dǎo)光板包括光導(dǎo)纖維。
4、根據(jù)上述權(quán)利要求3提出的檢測(cè)儀,其特征在于,該檢測(cè)儀設(shè)有帶孔板和使帶孔板繞通過(guò)所說(shuō)的諸導(dǎo)光器圓形排列端中心轉(zhuǎn)動(dòng)的裝置;帶孔板上的孔與所說(shuō)的諸導(dǎo)光器圓形排列端對(duì)準(zhǔn)以使得來(lái)自導(dǎo)光器的光可順次通過(guò)帶孔板上的孔;此外還設(shè)有另一種導(dǎo)光裝置,用以把光從所說(shuō)的孔導(dǎo)向所說(shuō)的光敏元件上。
5、根據(jù)權(quán)利要求4提出的檢測(cè)儀,其特征在于,所說(shuō)的另一種導(dǎo)光裝置包括一個(gè)透明元件,該元件有一個(gè)與所說(shuō)的諸導(dǎo)光器的圓形排列端相對(duì)準(zhǔn)但被所說(shuō)的帶孔板隔開(kāi)的環(huán)形面,該元件的另一端與所說(shuō)的光敏元件正面或進(jìn)口側(cè)接觸或毗鄰。
6、根據(jù)權(quán)利要求5提出的檢測(cè)儀,其特征在于,所說(shuō)的透明元件包括一個(gè)錐形或“漏斗”形的透明材料元件。
7、根據(jù)權(quán)利要求4提出的檢測(cè)儀,其特征在于,帶孔板連同有另一導(dǎo)光元件;該導(dǎo)光元件的一端與所說(shuō)的帶孔板連在一起,另一端用以將光導(dǎo)向光敏元件上;該另一個(gè)導(dǎo)光元件與所說(shuō)的帶孔板一起轉(zhuǎn)動(dòng)。
8、根據(jù)權(quán)利要求1到7的任何一個(gè)所提出的檢測(cè)儀,其特征在于,該諸導(dǎo)光器固定在其圓形排列端上;固定的方法是把導(dǎo)光器安置在有許多通孔的環(huán)形元件上;導(dǎo)光器的各端即座落在這些通孔中。
9、根據(jù)權(quán)利要求8提出的檢測(cè)儀,其特征在于,該光敏元件包括一光電倍增器。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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