[其他]超微試樣超薄片的制備無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85105786 | 申請(qǐng)日： | 1985-07-30 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN85105786B | 公開(kāi)（公告）日： | 1987-03-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 方克明 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 北京鋼鐵學(xué)院 |
| 主分類號(hào)： | G01N1/28 | 分類號(hào)： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京鋼鐵學(xué)院專利代理事務(wù)所 | 代理人： | 楊玲莉 |
| 地址： | 北京市海淀區(qū)*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | 本發(fā)明屬于一種現(xiàn)代物理測(cè)試制樣的新技術(shù)，是采用電鍍的方法鑲嵌超微試樣，然后進(jìn)行兩面磨拋處理，制成的試樣既薄又不損壞超微物體的組織結(jié)構(gòu)，適合于微米數(shù)量級(jí)且脆性大的樣品制備。其制成的樣品薄片可以小于２０００進(jìn)行透射電鏡測(cè)試時(shí)圖象清晰，為利用現(xiàn)代物理測(cè)試儀對(duì)超微物體的微觀分析研究提供了方便。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 試樣 薄片 制備 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
1.一種超微試樣超薄片的制備方法，鑲樣，其特征在于：a.單層放置試樣(4)的金屬平臺(tái)(2)作為陰極，另一金屬作為陽(yáng)極進(jìn)行電鍍；b.電鍍層將試樣全部覆蓋后取出陰極進(jìn)行磨拋，然后對(duì)此平面鍍上一層金屬膜，再磨拋沒(méi)有鍍層的另一面；c.將鑲有試樣薄片的金屬導(dǎo)體作為陽(yáng)極進(jìn)行電解。
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