[其他]單模光纖雙折射測量方法無效
| 申請號： | 85100420 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100420B | 公開（公告）日： | 1988-04-13 |
| 發明（設計）人： | 黃上元;林宗琦 | 申請（專利權）人： | 上海交通大學光纖技術研究所 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海專利事務所 | 代理人： | 顏承根 |
| 地址： | 上海市法華*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一種單模光纖雙折射測量方法，特別適用于測量短拍長的單模光纖。此方法是利用消光法測出單模光纖在不同扭曲下的偏振狀態，即測出兩個輸出線偏振態的傳播相位差2φ的絕對值，繪出sin2φ～a2l2曲線(此處l2為光纖中間未粘部分的長度，a2為其扭曲率)，將曲線極值點的橫坐標代入公式(I)，求出雙折射值。測量是通過單色光源、偏振片、物鏡、光纖固定裝置、光纖扭曲裝置、四分之一波長片、光檢測器等進行的。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 單模 光纖 雙折射 測量方法 | ||
【主權項】：
1、一種單模光纖雙折射的測量方法，特別適用于測量短拍長的單模光纖，其步驟包括：
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