[其他]單模光纖雙折射測量方法

無效

• 申請號: 85100420
• 申請日: 1985-04-01
• 公開（公告）號: CN85100420B
• 公開（公告）日: 1988-04-13
• 發明（設計）人: 黃上元;林宗琦
• 申請（專利權）人: 上海交通大學光纖技術研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海專利事務所
• 代理人: 顏承根

1、一種單模光纖雙折射的測量方法，特別適用于測量短拍長的單模光纖，其步驟包括：

（a）將單模光纖[5]的一端粘固在光纖固定裝置[4]上，另一端粘固在光纖扭曲裝置[6]上，并使單色光源[1]輸出的光經過前偏振片[2]、前物鏡[3]、單模光纖[5]、后物鏡[7]、后偏振片[8]、到達光檢測器[9];

（b）通過前偏振片[2]與后偏振片[8]的旋轉，在光檢測器[9]上找到消光位置，記下后偏振片[8]的方位讀數τ;

（c）將四分之一波長片[10]裝在后物鏡[7]與后偏振片[8]之間，保持前偏振片[2]與后偏振片[8]不動，調節四分之一波長片[10]的方位使光檢測器[9]保持消光;

（d）將前偏振片[2]的方位增加45度，四分之一波長片[10]的方位增加或減少45度;

（e）調整后偏振片[8]的方位，尋找新的消光位置，記下后偏振片[8]的方位讀數γ′;

（f）根據｜φ｜＝｜γ+45°-γ′｜求出｜φ｜值;

（g）轉動光纖扭曲裝置[6]，在單模光纖[5]不同的扭曲角的情況下，重復步驟（b）～（f），測出相應的｜φ｜值。

（h）繪出sin²φ～α₂l₂曲線，找出該曲線的對稱縱軸，測出曲線上距對稱縱軸的最近的右側極值點相對于對稱縱軸的橫座標a₂′l₂上述極值點右側最近的極值點相對于對稱縱軸的橫座標a₂″l₂，然后用公式（Ⅰ）：…（Ⅰ）

求出雙折射值。

此處：△β為單模光纖的雙折射;

K為光彈系數，近似值為0.07;

l₂為單模光纖未粘部分的長度;

α₂為單模光纖未粘部分的扭曲率;

φ為兩輸出線偏振態的的傳輸相位差之半。