[其他]用影象云紋檢測光學元件性能的方法無效
| 申請號： | 85100065 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100065A | 公開（公告）日： | 1986-08-06 |
| 發明（設計）人： | 葉紹英 | 申請（專利權）人： | 清華大學;中國人民解放軍57605部隊 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 章瑞溥 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一種用影象云紋法檢測光學元件性能的方法。該方法采用了投影云紋原理，將被測物體放入投影云紋光路中，若有光學畸變就會引起云紋柵線的偏移。因此顯示屏上就會出現云紋的變化，達到檢測的目的。本發明可對玻璃、有機玻璃制品如眼鏡、防毒面具鏡片、平板玻璃、汽車后視鏡等進行全場直觀的檢查鑒定。與現行的逐點檢查方法相比具有迅速、不遺漏、精度高等的優點。按本發明原理可制造各種儀器檢測光學元件的畸變。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 影象 檢測 光學 元件 性能 方法 | ||
【主權項】：
一種檢測光學元件光學性質的方法，其特征是光源[1]的光線、經聚光鏡[2]均勻照射在投影密柵版[3]上，通過透鏡組[4]與基準密柵版[6]產生干涉出現云紋在毛玻璃顯示屏[7]上成象，如在透鏡組和基準密柵版之間插入被測光學元件[5]或[9]如被測光學元件有畸變則透過被測光學元件[5]或被光學元件[9]反射的光線在與基準密柵版產生光學干涉后，在毛玻璃顯示屏上的云紋圖象即產生畸變。
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