[其他]用影象云紋檢測光學元件性能的方法無效
| 申請號： | 85100065 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100065A | 公開（公告）日： | 1986-08-06 |
| 發明（設計）人： | 葉紹英 | 申請（專利權）人： | 清華大學;中國人民解放軍57605部隊 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 章瑞溥 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 影象 檢測 光學 元件 性能 方法 | ||
【權利要求書】：
一種檢測光學元件光學性質的方法，其特征是光源[1]的光線、經聚光鏡[2]均勻照射在投影密柵版[3]上，通過透鏡組[4]與基準密柵版[6]產生干涉出現云紋在毛玻璃顯示屏[7]上成象，如在透鏡組和基準密柵版之間插入被測光學元件[5]或[9]如被測光學元件有畸變則透過被測光學元件[5]或被光學元件[9]反射的光線在與基準密柵版產生光學干涉后，在毛玻璃顯示屏上的云紋圖象即產生畸變。
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