[其他]冷指式多用途樣品控溫裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85100059 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85100059B | 公開(公告)日: | 1986-10-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | 曹必松 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | F25B19/00 | 分類號: | F25B19/00 |
| 代理公司: | 清華大學專利事務所 | 代理人: | 黃冠穎 |
| 地址: | 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 冷指式多用途樣品控溫裝置屬于與科研、教學用實驗儀器配套的樣品控溫設備,由三部分組成(1)電子學控溫系統(tǒng);(2)冷卻劑容器;(3)冷指型真空樣品室。真空樣品室內有樣品架,樣品架上設有測溫元件和加熱元件,通過過渡頭與伸出真空室外接觸冷卻劑的銅棒相連。裝置的溫度穩(wěn)定性好于0.05℃/24小時,若用液氮作冷卻劑,則控溫范圍為-188℃~+700℃。同一裝置可通過更換過渡頭和樣品架而適用于多種實驗目的,如固體和液體樣品的正電子湮沒測量,穆斯堡爾譜測量,深能級瞬態(tài)譜測量,光學測量,電導測量和其它可將信息以射線、電、光等方式從真空室內帶至真空室外的測量。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 冷指式 多用途 樣品 裝置 | ||
【主權項】:
1.一種用于固體和液體的正電子湮沒測量、穆斯堡爾譜測量、半導體材料的深能級瞬態(tài)譜測量中的實驗樣品控溫裝置,其特征在于:裝置由冷指狀真空樣品室、冷卻劑容器、電子學控溫系統(tǒng)三部分組成,真空樣品室內有樣品架,樣品架上設有加熱元件和測溫元件,加熱元件插在樣品架之內,測溫元件處于加熱元件的對稱位置,與加熱元件之間的距離不超過兩厘米,用于正電子湮沒測量時,加熱元件和測溫元件設置在冷指上蓋之下。樣品架通過過渡頭與真空室內的銅棒相連,銅棒伸出真空室外的部分全部浸入冷卻劑中,樣品架與過渡頭之間是錐形連接,過渡頭的形狀和材料可以根據不同的實驗目的而更換,樣品架可以根據控溫裝置與不同的實驗儀器配套使用而更換。
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