[其他]冷指式多用途樣品控溫裝置

無效

• 申請號: 85100059
• 申請日: 1985-04-01
• 公開（公告）號: CN85100059B
• 公開（公告）日: 1986-10-29
• 發明（設計）人: 曹必松
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: F25B19/00
• 分類號: F25B19/00
• 代理公司: 清華大學專利事務所
• 代理人: 黃冠穎

1、一種用于固體和液體的正電子湮沒測量、穆斯堡爾譜測量、半導體材料的深能級瞬態譜測量中的實驗樣品控溫裝置，其特征在于：裝置由冷指狀真空樣品室，冷卻劑容器、電子學控溫系統三部分組成，真空樣品室內有樣品架，樣品架上設有加熱元件和測溫元件，加熱元件插在樣品架之內，測溫元件處于加熱元件的對稱位置，與加熱元件之間的距離不超過兩厘米，用于正電子湮沒測量時，加熱元件和測溫元件設置在冷指上蓋之下。樣品架通過過渡頭與真空室內的銅棒相連，銅棒伸出真空室外的部分全部浸入冷卻劑中，樣品架與過渡頭之間是錐形連接，過渡頭的形狀和材料可以根據不同的實驗目的而更換，樣品架可以根據控溫裝置與不同的實驗儀器配套使用而更換。

2、一種如權利要求1所述的實驗樣品控溫裝置，在正電子湮沒測量中測量液體樣品時使用一個液體樣品盒，液體樣品盒的特征在于：包括一個樣品盒上蓋和一個樣品盒底座，二者通過螺釘連接，其間有一塑料密封圈，正電子源通過擰緊螺釘時密封圈的壓力密封于兩層塑料薄膜之間，兩個液體樣品室分別置于薄膜與樣品盒上蓋以及薄膜與樣品盒底座之間。