[其他]一種波長調諧自相關測量系統在審
| 申請號： | 101985000001620 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85101620B | 公開（公告）日： | 1988-10-05 |
| 發明（設計）人： | 徐炳德;葉子青 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 中國科學院長春專利事務所 | 代理人： | 顧業華 |
| 地址： | 吉林省長*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一種用于測量波長可調諧的超短激光脈沖寬度的自相關測量系統，屬于物理學領域中的一種以采用光學方法為特征的計量裝置。采用具有非臨界相位匹配優點的倍頻晶體切向與工作方式；采用平移一直角反射鏡作為相位匹配波長調諧機構和一種空心的掃描脈沖延遲機構，從而使本系統具有更高的脈寬分辨率，更大的掃描延遲范圍，更好的掃描線性度和更大的滿足相位匠配條件的基波光束發散角允限等優點。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 一種 波長 調諧 相關 測量 系統 | ||
【主權項】：
暫無信息
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械研究所，未經中國科學院長春光學精密機械研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/patent/101985000001620/，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：高純氧化鈥和氧化鏑色層分離和提取方法
- 下一篇：一種光電定心及測量裝置
- 同類專利
- 專利分類
