[其他]一種波長調諧自相關測量系統在審
| 申請號: | 101985000001620 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85101620B | 公開(公告)日: | 1988-10-05 |
| 發明(設計)人: | 徐炳德;葉子青 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 中國科學院長春專利事務所 | 代理人: | 顧業華 |
| 地址: | 吉林省長*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 波長 調諧 相關 測量 系統 | ||
1、一種用于測量波長可調諧的超短激光脈沖寬度的自相關測量系統,是由分束器,掃描脈沖延遲機構,相位匹配波長調諧機構,倍頻晶體和光電接收部分組成。其特征在于:相位匹配波長調諧機構是一個直角棱邊可沿聚光鏡2-14光軸平移的直角反射鏡2-5,或在光束平面內沿垂直聚光鏡2-14光軸方向同步對稱移動的反射組,倍頻晶體2-7按一定取向固定放置在聚光鏡2-14的焦面上,且取一特定切向。
2、按權利要求1所述的測量系統,其特征在于相位匹配波長調諧機構的直角反射鏡2-5是一塊二直角面鍍反射膜的等腰直角棱鏡。
3、按權利要求1所述的測量系統,其特征在于相位匹配波長調諧機構是由兩塊底面鍍反射膜的等腰直角棱鏡或兩塊反射面互相垂直的平面鏡構成的反射鏡組。
4、按權利要求1所述的測量系統,其特征在于倍頻晶體2-7的切向為晶片基波入射表面的法線與晶體Z軸成90°,與晶體X、Y軸均成45°,晶片放置取向為其Z軸與二基波光束入射面垂直。
5、按權利要求1所述的測量系統,其特征在于掃描脈沖延遲機構是由轉臂C和在其上安裝的空心鏡2-11組成。
6、按權利要求4所述的測量系統,其特征在于空心鏡2-11是由二直角面鍍反射膜的兩塊等腰直角棱鏡組成,二棱鏡的二直角棱邊相重合,且四個相鄰面互相垂直;或由幾塊平面反射鏡膠結成反射面互相垂直的鏡組。
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