[發明專利]陶瓷制品

有效

• 申請號: 99802298.5
• 申請日: 1999-11-18
• 公開（公告）號: CN1288450A
• 公開（公告）日: 2001-03-21
• 發明（設計）人: 坂本明彥;和田正紀
• 申請（專利權）人: 日本電氣硝子株式會社
• 主分類號: C04B35/00
• 分類號: C04B35/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 邰紅,楊麗琴

技術領域

本說明涉及管狀或棒狀陶瓷制品。

背景技術

陶瓷材料已在各種工業中廣泛使用。尤其是，以具有精細內孔的精密毛細管為代表的精密的管狀或棒狀陶瓷制品，已具有許多制品，可作為光學部件及電子部件的固定構件、導向構件、定位構件、加固構件、被覆構件和連接構件等。在這種精密部件制造時，需精確測定內孔尺寸等的內部尺寸，以及要檢測氣泡和裂縫等內部缺陷，這些都是重要的課題。

對于能透過可見光的材料來說，如使用光學測量儀器，則可容易地進行內部尺寸的測定和缺陷的檢測。然而，由于一般的陶瓷材料不能透過可見光，所以，不能采用這種方法。

為此，在尺寸精度測定時，不得不使用各種精密的量規，但是問題在于不能進行量規無法達到的內部的測定，以及，在測定時，費工夫。另外，在進行內部缺陷檢測時，可采用超聲波及放射線等方法進行各種測定，然而，這些方法的任何一種，檢查裝置復雜，測定效率低。

本發明的目的是提供一種既不透過可見光，又能容易、有效地進行內部結構的測定和檢查的管狀或棒狀的陶瓷制品。

發明的公開

本發明人等為了解決上述課題，進行悉心研究的結果發現，即使對于可見光是不透明的，但對于紅外線是透明的陶瓷，以及使用這種可透過紅外線的陶瓷制成的管狀物及棒狀物，通過使用紅外線可容易地進行內部結構的測定與檢查，于是，完成了本發明。

也就是說，本發明的陶瓷制品，它是對于可見光為不透明的管狀或棒狀的陶瓷制品，其特征在于，該制品是由對于從空氣中入射波長1550nm的紅外線，當厚度1mm時的透過率為45％以上，理想的是60％以上的紅外線透過陶瓷構成的。

還有，在本發明中，所謂“對于可見光不透明”，意指難以采用可見光進行內部結構的測定和檢查，具體的是，可見光區(380-760nm)內的直射光的平均透過率，厚度1mm時，為50％以下。

附圖的簡單說明

圖1是表示可以測定內孔的毛細管狀試樣的剖面透過率分布的說明圖。

圖2是表示不能測定內孔的毛細管狀試樣的剖面透過率分布的說明圖。

實施本發明的最佳方案

首先，對本發明進行更具體地說明。

本發明的陶瓷制品，是由對于可見光不透明的紅外線透過陶瓷構成的。該紅外線透過陶瓷的紅外線透過率，是在波長1550nm處、厚度1mm時達到45％以上。這里對人們關注的波長1550nm的紅外線透過率的理由加以說明。

在用紅外線進行測定和檢查時，必須要有紅外線激光的發光、受光部件，現在可能得到的波長為790nm，1310nm及1550nm等。

一般情況下，當波長加長時，由于測定的分解能降低，所以，測定的精度下降，但是，為了使光線透過陶瓷中，用長波長是有利的。

按照本發明人等的研究，如果使用接收波長1550nm的部件，已知既可確保亞微米粒子的測定精度，又容易得到用于測定的充分的透光量。另外，如果波長1550nm的紅外線透過率，厚度1mm時為45％以上，則用該波長的紅外線，進行精度良好的測定和檢查是可能的。

還有，在本發明的制品測定或檢查時，未必要使用1550nm的紅外線。也就是說，根據所要求的測定或檢查的精度，以及陶瓷的紅外線透過特性，有時使用1550nm以外的其他波長的紅外線更有利的情況也是有的。

另外，本發明的陶瓷制品，滿足(1-R)²≥O.84、μ≤0.7/mm的條件是理想的，式中R表示在1550nm波長的反射率，μ為反射系數和吸收系數之和。其理由如下：

透過率T和壁厚L的關系，可用T=Aexp(-μL)的公式表示。還有，常數A可用(1-R)²代替。從該式可見，材料的壁厚L一定時，透過率取決于常數A及μ。

例如，在壁厚1mm時，使透過率T達到45％以上的A和μ的組合是無數的，然而，當A小于0.84時，或者μ大于0.7/mm時，如壁厚L大，則透過率的減少顯著。因此，由這種材料構成的制品，用1550nm紅外線測定·檢查的范圍局限于壁厚小的制品，是不實用的。

還有，上述紅外線透過陶瓷，具體地說，并不局限于狹義的陶瓷(氧化鋁、氧化鋯等)，還包括玻璃(乳白色玻璃，有色玻璃等)、玻璃陶瓷等廣義的陶瓷。可用各種方法進行這些材料紅外線透過率的調節。

例如，對于狹義的陶瓷及玻璃陶瓷而言，可通過控制其析出結晶的粒徑與基體相折射率之差，另外，對于乳白玻璃而言，可通過控制由于分相而生成的不同種粒子的粒徑及各相折射率之差等來調節紅外線透過率。

下面介紹各種材料的制造方法。