[發(fā)明專利]促進半導體晶片釋放的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 99120766.1 | 申請日: | 1999-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN1290030A | 公開(公告)日: | 2001-04-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | C·T·林 | 申請(專利權)人: | 西門子公司 |
| 主分類號: | H01L21/304 | 分類號: | H01L21/304;B24B1/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 鄒光新,陳景峻 |
| 地址: | 聯(lián)邦德*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 促進 半導體 晶片 釋放 方法 | ||
1.一種從拋光墊上釋放半導體晶片的方法,包括以下步驟:
漿料施加到拋光墊;
旋轉(zhuǎn)其上有漿料的載架,同時向晶片施加壓力將其頂向有漿料的拋光墊,由此用漿料拋光晶片;
將水引入到拋光墊;
增加拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度,去除部分漿料;
在增加旋轉(zhuǎn)速度的步驟期間,減小壓力,以基本上防止進一步的拋光;以及
從拋光墊上移走晶片。
2.根據(jù)權利要求1的方法,其中旋轉(zhuǎn)拋光墊同時施加壓力的步驟包括以每分鐘約20到約100轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)速率旋轉(zhuǎn)拋光墊的步驟。
3.根據(jù)權利要求1的方法,其中旋轉(zhuǎn)拋光墊同時施加壓力的步驟包括在晶片和拋光墊之間施加約2到約8psi的壓力的步驟。
4.根據(jù)權利要求1的方法,其中將水引入到拋光墊的步驟包括切斷向拋光墊提供漿料的步驟。
5.根據(jù)權利要求1的方法,其中增加拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度增加約1.1倍到約3倍的步驟。
6.根據(jù)權利要求1的方法,其中增加拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度增加到每分鐘約22轉(zhuǎn)到每分鐘約300轉(zhuǎn)的步驟。
7.根據(jù)權利要求1的方法,其中減小壓力的步驟包括將壓力減小到約0到約3psi之間的步驟。
8.根據(jù)權利要求1的方法,其中減小壓力的步驟包括將壓力減小到基本上為零的步驟。
9.根據(jù)權利要求1的方法,還包括將表面活性劑引入到拋光墊以分離漿料的步驟。
10.一種從拋光墊上釋放半導體晶片的方法,包括以下步驟:
可釋放地將半導體晶片固定到載架;
漿料施加到拋光墊;
旋轉(zhuǎn)載架和晶片,同時向晶片施加壓力使其頂向有漿料的拋光墊,由此用漿料拋光晶片;
旋轉(zhuǎn)拋光墊,使?jié){料進一步拋光晶片;
將水引入到拋光墊來結束拋光;
增加晶片和拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度,去除部分漿料;
在增加旋轉(zhuǎn)速度期間,減小將晶壓壓向拋光墊的壓力,以基本上防止進一步的拋光;以及
通過提升載架從拋光墊上移走晶片。
11.根據(jù)權利要求10的方法,其中旋轉(zhuǎn)載架和晶片同時施加壓力的步驟包括以每分鐘約20到約100轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)速率旋轉(zhuǎn)晶片的步驟。
12.根據(jù)權利要求10的方法,其中旋轉(zhuǎn)載架和晶片同時施加壓力的步驟包括在晶片和拋光墊之間施加約2到約8psi的壓力的步驟。
13.根據(jù)權利要求10的方法,其中將水引入到拋光墊的步驟包括切斷向拋光墊提供漿料的步驟。
14.根據(jù)權利要求10的方法,其中增加晶片和拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將晶片的旋轉(zhuǎn)速度增加約1.1倍到約3倍的步驟。
15.根據(jù)權利要求14的方法,其中增加晶片和拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度增加約1.1倍到約3倍的步驟。
16.根據(jù)權利要求10的方法,其中增加晶片和拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將晶片的旋轉(zhuǎn)速度增加到每分鐘約22轉(zhuǎn)到每分鐘約300轉(zhuǎn)的步驟。
17.根據(jù)權利要求16的方法,其中增加晶片和拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度以除去部分漿料的步驟包括將拋光墊的旋轉(zhuǎn)速度增加到每分鐘約22轉(zhuǎn)到每分鐘約300轉(zhuǎn)的步驟。
18.根據(jù)權利要求10的方法,其中減小壓力的步驟包括將壓力減小到約0到約3psi之間的步驟。
19.根據(jù)權利要求10的方法,其中減小壓力的步驟包括將壓力減小到基本上為零的步驟。
20.根據(jù)權利要求10的方法,還包括將表面活性劑引入到拋光墊以分離漿料的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西門子公司,未經(jīng)西門子公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/99120766.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:中華人民共和國法人單位身份印章
- 下一篇:一種口腔護理液
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





