[發明專利]磁顆粒、含有這種顆粒的基片、防偽文件以及檢測這種顆粒的方法

無效

• 申請號: 97192227.6
• 申請日: 1997-12-12
• 公開（公告）號: CN1211331A
• 公開（公告）日: 1999-03-17
• 發明（設計）人: 皮埃爾·杜布萊;保羅·安德魯·羅伯森;約漢·非舍爾;喬納森·布雷爾
• 申請（專利權）人: 阿約·威金斯公司;比卡爾特公司
• 主分類號: G07D7/00
• 分類號: G07D7/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 馬浩

本發明是關于檢測是否在基片中存在顆粒的方法和裝置，這種基片的基材料所具有的電磁性質與顆粒的相應電磁性質有顯著差異。

本發明也是關于這種顆粒和包含這種顆粒的基片，這種顆粒允許容易地識別出真正的防偽文件，以防止這種文件被復制或者為了有助于對這種文件的鑒別。

本發明主要是意欲應用于各類防偽文件的識別和鑒定，這些文件具有包含上述顆粒的紙基或合成基材料，如鈔票、支票、護照、信用卡、門票、彩票和證券，但也可以應用于其他需要識別對象的應用。

先有技術已經以廣泛的手段解決防偽文件識別問題。

某些先有技術的解決方案的努力方向是識別印在某些防偽文件上的可能的特征圖案。

為了防止真的防偽文件被人用高分辨率彩色照相復印設備復制造假，先有技術還提出對基片的基本材料的纖維結構或文件的表面添加一個或多個防偽元素，從而允許識別和/或使該文件難于制造。

US-A-4114032(優先權日期1973)和US-A-4218674(申請日期1975)公開一種類似的系統，其中防偽文件中嵌入有纖維，這些纖維敷涂磁性或可磁化材料。只是檢驗在防偽文件中這種磁纖維的存在，或者作為改進的特征，測量防偽文件中磁纖維的分布，從而使每個單個文件能被給出一個唯一的標記。可以得到多達500×106個不同的可能組合。

EP-A-0625766,EP-A-0632398和EP-A-0656607(全都在1993年申請)公開一個系統，其中的纖維由磁粉末組成，磁粉末作為聚合物外鞘的核心。使用DC(直流)電流激勵一個線圈，以此來進行磁檢測。然而，由于先前的磁歷史或磁場擾動或防偽文件的變形，這種磁掃描系統的可重復性不能得到保證，真防偽文件和偽造文件之間的準確區分不能總是得到保證。所以檢測不總是有鑒別性。

再有，如果防偽文件上的字符已經是利用磁性墨水印制的，這種磁性墨水可以被一種分選設備檢測到，這時在磁纖維和字符的磁性墨水之間可能會有干擾。

先有技術中公開的其他實施例是基于對防偽元素的特殊電磁性質的檢測。FR2425937公開一種方法是把金屬纖維(更具體地說是不銹鋼纖維)散布到紙的纖維結構中，以便能利用微波進行識別。

US-A-4820912(優先權日期1985)公開另一種系統，其中防偽文件包含隨機分布的導電纖維。通過對文件進行微波掃描，能得到防偽文件內部纖維的唯一分布。能得到表征這種分布的標記的多達64320個不同的可能組合。把這種微波技術應用于照相復制設備之類復制設備以防止防偽文件被復制(例如WO-A-95/24000(優先權日期1994)為所公開的)不能把防偽文件與印刷電路板(PCB)或在共表面裝飾有金屬箔的賀卡區分開。另一方面，如果在真的防偽文件上放一金屬板，則系統不能發現纖維的存在。照相設備的特殊外罩或照相設備附近的金屬部件可能會干擾該系統。結果，這些系統不完全可靠。

先有技術還提供了許多光學鑒別系統。其中一些已在US-A-3313941(申請日期：1963)和US-A-3449585(申請日期：1966)中公開。然而，所有光學系統遇到的主要缺點是在真的防偽文件表面上的磨損或損壞或弄臟都會使防偽文件不再被識別為真正的文件。

本發明的一個目的是避免先有技術的缺點。

本發明的另一個目的是提供一個耐用的識別系統，它允許把真正的防偽文件與其他對象或文件區分開。

本發明的又一目的是提供一個系統，它防止真正的防偽文件被復制。

本發明的又一目的是提供一個系統，它不會與傳統的磁性字符讀出器干擾。

本發明的又一目的是提供一種基片，如防偽文件，更具體地說，如鈔票，其中包括了在反照相復制系統中易于被檢測出來的防偽元素。

根據本發明的第一方面，提供了一種方法以檢測基片中長形磁顆粒的存在，這種基片的基材料所具有的磁性質與長形顆粒的相應磁性質有顯著差異。所述顆粒的飽和磁場Hs大于100A/m，最好大于200A/m，而大于300A/m則更好。基材料最好由非磁性材料制成。長形顆粒最好有這樣的細長形狀，以使其去磁因數N小于1/250，最好小于1/1000，而它們的截面直徑小于30微米。飽和磁場Hs最好小于1000A/m。名詞“飽和磁場Hs”這里定義為在飽和通量密度Bs開始到達時的磁場強度。名詞“截面直徑”這里是指最大截面尺度。

該方法由以下步驟組成：

(a)向基片發射具有一個或多個特定基頻率的電磁信號，從而使存在的長形磁顆粒至少在源信號周期的一部分進入顆粒B-H曲線的非線性部分；

(b)檢測從基片發出的電磁檢測信號；