[發(fā)明專利]線段端點(diǎn)定位裝置及定位補(bǔ)償方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 97121314.3 | 申請日: | 1997-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN1215872A | 公開(公告)日: | 1999-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳傳嘉;吳傳禎 | 申請(專利權(quán))人: | 吳傳嘉;吳傳禎 |
| 主分類號: | G06K9/20 | 分類號: | G06K9/20 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 章蔚強(qiáng) |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 線段 端點(diǎn) 定位 裝置 補(bǔ)償 方法 | ||
1.一種線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于它包括:
一微處理器,為系統(tǒng)的核心,負(fù)責(zé)產(chǎn)生不同時脈信號以控制各電路正常運(yùn)作;
定位線圈驅(qū)動電路,將微處器送入的驅(qū)動信號進(jìn)行轉(zhuǎn)換及放大處理;
定位線圈,可固定于待測線段物件上,其是受到定位線圈驅(qū)動電路的推動而產(chǎn)生磁場,以供后續(xù)電路擷取線段端點(diǎn)的座標(biāo);
一平面取樣電路,以平面掃瞄方式由不同座標(biāo)格線位置感測定位線圈所產(chǎn)生的磁場的大小,并據(jù)以感應(yīng)成電壓信號;
一座標(biāo)擷取電路,接收平面取樣電路所掃瞄得到在不同座標(biāo)線上所感應(yīng)到的電壓信號,以轉(zhuǎn)換為定位線圈中心點(diǎn)位置的信號;
一計數(shù)電路,為依據(jù)座標(biāo)擷取電路所送入的信號進(jìn)行計數(shù)或停止,以計算出座標(biāo)x、y軸向的數(shù)值,再經(jīng)由微處理器換算為座標(biāo)值;
由此構(gòu)成對一線段物件所在兩端點(diǎn)位置加以定位,并隨其移動追蹤以記錄其移動軌跡者。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:在用以擷取線段移動軌跡的方式上,是運(yùn)用兩組定位線圈分別形成兩組點(diǎn)定位機(jī)構(gòu),將此兩個點(diǎn)定位機(jī)構(gòu)固定在待測線段物件的兩端,以分時切換的方式對兩個端點(diǎn)分別加以定位并記錄其座標(biāo)位置,依如下步驟達(dá)成:
步驟一:對線段左端點(diǎn)定位,并記錄其座標(biāo)值;
步驟二:對線段右端點(diǎn)定位,并記錄其座標(biāo)值,至此完成一線段在某一時刻二端點(diǎn)位置的定位;
步驟三:在每隔一固定時間重覆步驟一與步驟二,對下一個時刻線段所在位置的二端點(diǎn)加以定位,直到停止對線段移動軌跡的擷取為止。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:平面取樣電路、座標(biāo)擷取電路及計數(shù)電路構(gòu)成一個座標(biāo)感測與時空換算的機(jī)制,利用座標(biāo)掃瞄的時間差將平面距離的關(guān)系轉(zhuǎn)換成時間差,做為座標(biāo)位置推算的依據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:所述的平面取樣電路是以縱、橫交錯的導(dǎo)線所組成的導(dǎo)線矩陣構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:所述的平面取樣電路更包括x、y軸多工器以及解碼電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:所述的座標(biāo)擷取電路是以放大器、調(diào)變器、低通濾波器以及比較器構(gòu)成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線段端點(diǎn)定位裝置,其特征在于:所述的計數(shù)器是以觸發(fā)器搭配計數(shù)器構(gòu)成。
8.一種線段端點(diǎn)定位裝置的定位補(bǔ)償法,其特征在于:為補(bǔ)償線段端點(diǎn)定位裝置所測得的定位點(diǎn)與線段物件實(shí)際位置的差距,以反映出線段物件端點(diǎn)的實(shí)際座標(biāo),其方法的執(zhí)行分成校正模式與線上掃瞄模式兩種:
當(dāng)處于校正模式時,系統(tǒng)對一已知置放于固定位置實(shí)際端點(diǎn)座標(biāo)為C(x3,y3)及D(x4,y4)的線段物件進(jìn)行定位掃瞄,通過其他線段物件感測裝置確定該線段物件經(jīng)由線段端點(diǎn)定位裝置所感測到的座標(biāo)為A(x1,y1),B(x2,y2),則以如下公式求得定位補(bǔ)償參數(shù)s、t、m、n:
s=(p1x0+p2y0)/(x02+y02)
t=(p2x0-p1y0)/(x02+y02)
m=(q1x0+q2y0)/(x02+y02)
n=(q2x0+q1y0)/(x02+y02)
其中:
x0=x2-x1,y0=y2-y1,p1=x3-x1
p2=y3-y1,q1=x4-x1,q2=y4-y1
當(dāng)系統(tǒng)處于線上掃瞄模式時,線段端點(diǎn)定位裝置是對感測到的每一組端點(diǎn)座標(biāo)A(x1′,y1′),B(x2′,y2′),依前述的定位補(bǔ)償參數(shù)及以下方式進(jìn)行定位補(bǔ)償:
x3′=x1′+s(x2′-x1′)-t(y2′-y1′)
y3′=y1′+s(y2′-y1′)+t(x2′-x1′)
x4′=x1′+m(x2′-x1′)-n(y2′-y1′)
y4′=y1′+m(y2′-y1′)+n(x2′-x1′)
其中C(x3′,y3′)及D(x4′,y4′)即為掃瞄到的線段物件實(shí)際的端點(diǎn)座標(biāo)值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于吳傳嘉;吳傳禎,未經(jīng)吳傳嘉;吳傳禎許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/97121314.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識別印刷或書寫字符或者用于識別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯誤的檢測或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個筆畫組成的,而且每個筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合





