[發(fā)明專利]磁性記錄介質(zhì)及其生產(chǎn)工藝無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 97119394.0 | 申請(qǐng)日: | 1997-09-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1178970A | 公開(kāi)(公告)日: | 1998-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 大澤弘;渡邊裕之 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昭和電工株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G11B5/82 | 分類號(hào): | G11B5/82;G11B5/84 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 王永剛 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁性 記錄 介質(zhì) 及其 生產(chǎn)工藝 | ||
1.包含在其上有形成磁性記錄層的襯底圓盤的磁性記錄介質(zhì),所述襯底圓盤具有通過(guò)聚焦激光束使襯底表面起紋理而在其表面形成的多個(gè)微型凸起;其特征在于:襯底圓盤圓周方向上相鄰微型凸起的間距D的在一定范圍變化以滿足以下公式(1):
1≤[(Dmax-Dmin)/Davg]×100(%)≤200????(1)其中Dmax,Dmin和Davg分別是最大間距,最小間距和平均間距,在襯底圓盤圓周方向上相鄰的微型凸起的間距D中,除去2.5%具有最大尺寸的間距D和除去2.5%具有最小尺寸的間距D,Dmax,Dmin和Davg從剩余的95%的間距D中計(jì)算。
2.如權(quán)利要求1的磁性記錄介質(zhì),其中所述微型凸起的平均直徑為1到10μm,平均高度為1到30nm以及在襯底圓盤圓周方向上的相鄰微型凸起的平均間距Davg為1到50μm,微型凸起占襯底圓盤表面總面積的0.1到99.9%。
3.如權(quán)利要求1或2的磁性記錄介質(zhì),其中襯底圓盤圓周方向上相鄰的微型凸起的所述間距D在一定范圍變化以滿足以下公式(3):
10≤[(Dmax-Dmin)/Davg]×100(%)≤150????(3)其中Dmax,Dmin和Davg如權(quán)利要求1中所定義。
4.包括激光紋理處理襯底表面在表面形成多個(gè)微型凸起步驟的產(chǎn)生磁性記錄介質(zhì)的工藝,其特征在于:激光束以使得襯底圓盤圓周方向上相鄰的微型凸起的間距D在一定范圍變化以滿足以下公式(1)的方式聚焦:
1≤[(Dmax-Dmin)/Davg]×100(%)≤200????(1)其中Dmax,Dmin和Davg分別是最大間距,最小間距和平均間距,在襯底圓盤圓周方向上相鄰的微型凸起的間距D中,除去2.5%具有最大尺寸的間距D和除去2.5%具有最小尺寸的間距D,Dmax,Dmin和Davg從剩余的95%的間距D中計(jì)算。
5.如權(quán)利要求4的生產(chǎn)磁性記錄介質(zhì)的工藝,其中所述激光束到襯底圓盤的聚焦是在激光束的脈沖重復(fù)頻率F以滿足以下公式(2)方式調(diào)制時(shí)完成的:
0.01≤[(Fmax-Fmin)/Favg]≤100????(2)其中Fmax,F(xiàn)min和Favg分別是激光束的脈沖重復(fù)頻率的最大值,最小值和平均值;
6.如權(quán)利要求5的生產(chǎn)磁性記錄介質(zhì)的工藝,其中所述激光束到襯底圓盤的聚焦的完成是在襯底圓盤和聚焦調(diào)制激光束的系統(tǒng)沿襯底圓盤徑向相互移動(dòng)時(shí),和襯底圓盤以恒定角速度或以使得襯底圓盤的聚焦點(diǎn)相對(duì)于旋轉(zhuǎn)襯底圓盤以恒定的線速度沿襯底圓盤圓周方向移動(dòng)的速度旋轉(zhuǎn)時(shí)進(jìn)行的。
7.如權(quán)利要求4的生產(chǎn)磁性記錄介質(zhì)的工藝,其中激光束傳輸經(jīng)過(guò)掩模穿孔然后聚焦到襯底圓盤的表面;在掩模圓周方向上的相鄰穿孔間距D’,在一定范圍變化以滿足下面公式(4):
1≤[(D’max-D’min)/D’avg]×100(%)≤200????(4)其中D’max,D’min和D’avg分別是最大間距,最小間距和平均間距,在掩模圓周方向上相鄰的穿孔的間距D’中,除去2.5%具有最大尺寸的間距D’和除去2.5%具有最小尺寸的間距D’,?D’max,D’min和D’avg從剩余的95%的間距D’中計(jì)算。
8.如權(quán)利要求4的生產(chǎn)磁性記錄介質(zhì)的工藝,其中激光束通過(guò)一個(gè)具有反射角連續(xù)改變工作的鏡面的光學(xué)系統(tǒng)反射,以及反射的激光束聚焦到襯底圓盤表面,其中控制鏡面的反射角以獲得滿足公式(1)要求的凸起間距。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于昭和電工株式會(huì)社,未經(jīng)昭和電工株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/97119394.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B5-00 借助于記錄載體的激磁或退磁進(jìn)行記錄的;用磁性方法進(jìn)行重現(xiàn)的;為此所用的記錄載體
G11B5-004 .磁鼓信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-008 .磁帶或磁線信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-012 .磁盤信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-02 .記錄、重現(xiàn)或抹除的方法及其讀、寫或抹除的電路
G11B5-10 .磁頭的外殼或屏蔽罩的結(jié)構(gòu)或制造





