[發(fā)明專利]一種多狀態(tài)輸入檢測(cè)裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 97103301.3 | 申請(qǐng)日： | 1997-03-04 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1123120C | 公開(kāi)（公告）日： | 2003-10-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張成才 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 盛群半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H03K5/00 | 分類號(hào)： | H03K5/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 張政權(quán) |
| 地址： | 臺(tái)灣省新竹市*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 狀態(tài) 輸入 檢測(cè) 裝置 | ||
【說(shuō)明書】：
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- 狀態(tài)檢測(cè)裝置及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置以及狀態(tài)估計(jì)方法
- 經(jīng)由次級(jí)狀態(tài)推斷管理狀態(tài)
- 狀態(tài)估計(jì)裝置及狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置、狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)預(yù)測(cè)裝置以及狀態(tài)預(yù)測(cè)方法
- 狀態(tài)推定裝置、狀態(tài)推定方法和狀態(tài)推定程序
- 狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)判定裝置、狀態(tài)判定方法以及狀態(tài)判定程序
- 狀態(tài)判斷裝置以及狀態(tài)判斷方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
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- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
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