[實用新型]熔質內部高溫跟蹤測量裝置

無效

• 申請號: 96233571.1
• 申請日: 1996-08-15
• 公開（公告）號: CN2269589Y
• 公開（公告）日: 1997-12-03
• 發明（設計）人: 王貴朝;田建華;余泉有;呂秀生;何麗華;譚顯祥;丁伯南;傅世勤;劉勇;馮婕
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 四川大學專利事務所
• 代理人: 陳智倫

1.熔質內部高溫跟蹤測量裝置，其特征是由感溫探頭、多波長高溫計和數據存儲分析儀構成，感溫探頭通過光纜與多波長高溫計連接，多波長高溫計同時又通過電纜與數據存儲分析儀連接，感溫探頭中心為一圓柱體形狀的金屬氧化物單晶，在該單晶圓柱體周圍有一個筒形的陶瓷保護殼，該單晶圓柱體的后端有一高低溫光導耦合器及夾層套筒形的水冷卻器，多波長高溫計由光纜插座、圓盤形的光調制及波長選擇器、光電轉換器及跟隨放大器構成。

2.按照權利要求1的高溫測量裝置，其特征是感溫探頭的陶瓷保護殼筒體內腔為圓筒形，該保護殼外形可以為圓柱形或棱柱形，高低溫光導耦合器的內腔及外形與陶瓷保護殼的內腔及外形相同，水冷卻器夾層套筒內腔形狀與陶瓷保護殼及高低溫光導耦合器的外形相同并吻合。

3.按照權利要求1的高溫測量裝置，其特征是在多波長高溫計的光調制及波長選擇器上從前面到后面貫穿嵌裝有二至七塊圓形窄帶慮光片。