[實(shí)用新型]薄膜熱敏電阻紅外線探測(cè)器無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 96222515.0 | 申請(qǐng)日: | 1996-09-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN2275243Y | 公開(公告)日: | 1998-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁仁杰;黃玢 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 馬開榮;郭興華 |
| 主分類號(hào): | G01N21/00 | 分類號(hào): | G01N21/00 |
| 代理公司: | 中科專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 劉文意 |
| 地址: | 100029 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 熱敏電阻 紅外線 探測(cè)器 | ||
1.一種薄膜熱敏電阻紅外探測(cè)器,其特征在于它包含有:聚光鍺透鏡、阻擋層、類金剛石膜介質(zhì)層、鉻金導(dǎo)電層、薄膜熱敏電阻、陶瓷或其它絕緣材料過渡電極、內(nèi)引線和外殼及管腳,其中,在鍺透鏡平面上的補(bǔ)償熱敏電阻處設(shè)阻擋層,在整個(gè)鍺透鏡平面上設(shè)有一層類金剛石膜,在類金剛石薄膜介質(zhì)層上設(shè)置鉻金導(dǎo)電層布線,鍺透鏡軸中心位置上及其旁側(cè)有阻擋層的位置上,設(shè)置二個(gè)薄膜熱敏電阻,在鉻金導(dǎo)電層的三端點(diǎn)分別引出三根細(xì)金絲,即內(nèi)引線,把這些細(xì)金絲分別焊在陶瓷或其它絕緣材料過渡電極上,又在過渡電極上另用三根較粗導(dǎo)線將它直接焊到探測(cè)器管座的管腿上。
2.按照權(quán)利要求1所說的薄膜熱敏電阻紅外探測(cè)器,其特征在于所說的薄膜熱敏電阻中的錳鎳鈷三元素的原子比,一般是錳在60至80%,鎳在14至5%,鈷在26至15%。
3.按照權(quán)利要求1所說的薄膜熱敏電阻紅外探測(cè)器,其特征在于所說的介質(zhì)層是由一層類金剛石薄膜組成的。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





