[發明專利]光掃描記錄介質的裝置

無效

• 申請號: 96190438.0
• 申請日: 1996-03-08
• 公開（公告）號: CN1090362C
• 公開（公告）日: 2002-09-04
• 發明（設計）人: J·J·M·布蘭特;I·P·B·烏本斯;J·H·庫姆斯;J·桑尼維爾德;J·P·C·克龍;P·T·尤特
• 申請（專利權）人: 皇家菲利浦電子有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/135
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 董巍,鄒光新

1.用于掃描具有第一信息層和第一厚度的第一透明層的第一種記錄載體和用于掃描具有第二信息層和與第一厚度不同的第二厚度的第二透明層的光掃描裝置，該裝置包括用于產生輻射光束的輻射源和為把通過第一透明層的輻射光束以一個焦點會聚在第一信息層上的物鏡，其特征在于，該裝置包括用于把輻射光束的最佳聚焦基本上定位在第一信息層上和所述的輻射光束的近軸聚焦基本上定位在第二信息層上的裝置。

2.根據權利要求1的光掃描裝置，其特征在于，可操作地排列定位裝置以從在由掃描第二種記錄載體反射的輻射光束的截面的環狀外部區域的輻射中形成最佳聚焦誤差信號和從在所述截面的環狀外部區域內的中心區域的輻射中形成軸聚焦誤差信號，還在于，定位裝置包括四個伺服系統，用于當掃描第一種記錄載體時響應最佳聚焦誤差信號和當掃描第二種記錄載體時響應近軸聚焦誤差定位物鏡。

3.根據權利要求2的光掃描裝置，其特征在于，定位裝置包括類型檢測器，用于產生表示正被掃描的記錄載體的類型的類型信號，和選擇器，用于響應類型信號選擇四個伺服系統控制的聚焦誤差信號。

4.根據權利要求2的光掃描裝置，其特征在于，定位裝置包括用于形成最佳聚焦誤差信號的第一聚焦誤差系統和用于形成近軸聚焦誤差信號的第二聚焦誤差系統。

5.根據權利要求4的光掃描裝置，其特征在于，第一和第二聚焦誤差檢測系統分別包括第一和第二輻射靈敏檢測系統，第二輻射靈敏檢測器形成圍繞第一輻射靈敏檢測器的環形。

6.根據權利要求5的光掃描裝置，其特征在于第一輻射靈敏檢測器包括按第一對正交劃分線之間的象限排列的四個子檢測器，和第二輻射靈敏檢測器包括按第二對正交劃分線之間的象限排列的四個子檢測器，第一和第二對線相互成45°角，該裝置還包括象散單元，該單元排列在反射光束的光徑中和具有第一象散功率的中心區域和具有第二象限功率圍繞中心區域的環狀區域，中心區域的主方向分環狀區域的主方向形成45°角。

7.根據權利要求2的光掃描裝置，其特征在于該裝置包括分光單元，用于把由記錄載體反射的輻射光束分成第一和第二檢測光束，第一輻射感應檢測器被排列在第一檢測光束的光徑中而第二輻射感應檢測器被排列在第二檢測光束的光徑中，其中第二檢測光束包括主要來自中心區域的輻射和第二檢測光束包括來自至少環狀外部區域的輻射。

8.根據權利要求7的光掃描裝置，其特征在于分光單元具有耦合來自輻射源的輻射光徑的反射光束的附加作用。

9.根據權利要求2的光掃描裝置，其特征在于，定向裝置包括具有輻射感應檢測器的聚焦誤差檢測系統，用于在來自掃描記錄載體的輻射的反射光束中的輻射中形成聚焦誤差信號，檢測器的輻射靈敏表面具有有效尺寸，以致當掃描第一種記錄載體時它捕獲基本上來自反射光束的整個截面的輻射形成最佳聚焦誤差信號，而當掃描第二種記錄載體時，它捕獲主要來自所述截面的中心區域的輻射用于形成近軸聚焦誤差信號。

10.根據權利要求9的光掃描裝置，其特征在于，它包括排列在反射光束中的分光單元，用于形成第零階光束和衍射高階光束，和排列在第零階光束中的檢測系統，用于產生表示存貯在信息層中的信息的信息信號，還在于，用于形成聚焦誤差信號的輻射感應檢測器被排列在衍射高階光束的光徑中。

11.根據權利要求2的光掃描裝置，其特征在于，定位裝置包括排列在反射光束的光徑中的可調截斷裝置，用于當掃描第二種記錄載體時截斷在反射光束的截面的環狀外部區域中的輻射，和具有輻射感應檢測器的聚焦檢測系統，用于形成來自產生在第二記錄載體的反射光束中輻射的聚焦誤差信號，聚焦誤差信號當掃描第一種記錄載體時是最佳聚焦誤差信號和當掃描第二種記錄載體時是近軸聚焦誤差信號。

12.根據權利要求11的光掃描裝置，其特征在于，可調截斷裝置包括液晶單元，該單元具有接收反射光束的截面的中心區域的輻射的中心區域和圍繞中心區域的環狀區域，該單元正被操作地連接，以使通過環狀區域的輻射的極化方向相對于通過液晶單元的中心區域的輻射的極化方向當掃描第一種記錄載體時旋轉0°角而當掃描第二種記錄載體時旋轉90°角，該截斷裝置還包括排列在液晶單元和聚焦誤差檢測系統之間的極化器，極化器正被定向為把來自單元的中心區域的輻射發送到聚焦誤差檢測系統。