[發明專利]一種用電發光快速檢驗液體中微生物污染的方法

無效

• 申請號: 96105260.0
• 申請日: 1996-05-28
• 公開（公告）號: CN1072799C
• 公開（公告）日: 2001-10-10
• 發明（設計）人: 張錦珠;沸資－艾伯特波普
• 申請（專利權）人: 中國科學院生物物理研究所
• 主分類號: G01N21/66
• 分類號: G01N21/66
• 代理公司: 上海華東專利事務所
• 代理人: 高存秀

本發明涉及一種檢驗液體中微生物污染的技術領域，特別是利用電發光檢驗飲料、牛奶、水、酒等或把被檢驗固體配成液體檢驗它們當中微生物污染的技術方法。

目前常用的檢驗物質中是否被微生物污染采用培養方法，即克隆方法，如檢驗啤酒在生產過程中是否被細菌污染了，牛奶在罐裝過程中是否被細菌污染等等，克隆方法如文獻1。Koch,A.:Crowth?Measurement?in?Manualof?methodsfor?general?bacteriology,ed?by?Gerhardt,Murray,Costilow,Nester,Wool,Krieg?and?Phillips?American?Society?for?Microbiology,1981?p179-206。該方法是一種培養方法。首先要把被檢驗的樣品作成不同稀釋樣品后加入培養基中，放在適當溫度的培養箱內培養，一般培養溫度在37℃，培養時間除個別的物質可培養幾個小時，一般需經24-48小時之后才可把被檢樣品中的微生物或細菌培養出來。然后再用目測觀察培養物細菌的克隆數目，觀察它的多少決定污染情況，如果看不到克隆就認為沒有細菌污染，整個過程需在無菌條件下進行。這個方法由于培養時間長，造成檢驗一次周期長的缺點，往往在食品工業如啤酒生產過程中是不允許的，這么長的培養時間而影響了啤酒的質量，造成經濟損失，第二個缺點該方法準確性不高，不夠靈敏，因為該方法要求被檢樣品中微生物得達到一定多的程度才可以看得出來，所以在污染情況比較輕微時一般培養出細菌克隆觀察不到而誤診。

還有另外一種螢光免疫方法，如文獻2.Wolff,L.F.,Anderson,L.,Sandberg,G.P.,Reither,L.,Binsfeld,C.A.,Corinaldesi,G.,Shelburne,C.E.Bacteria?Concentration?fluorescence?immunoassay(BCFIA)for?thedetection?of?periodontopathogens?in?plaque.J.Periodontol.1992,63.1093-101，所述的：它已在某些醫藥衛生領域中應用。該方法把被檢物通過培養它的免疫螢光抗體，如果檢測物中有微生物它就與培養出的免疫螢光抗體產生螢光，通過螢光分光光度計測量，就可以觀察到螢光強度判斷樣品被污染的情況。該方法的優點是快速，但是檢驗過程復雜，設備昂貴，不可能普遍推廣；另外的缺點只限于特定的細菌，即只適用于免疫螢光的細菌有效，因而該方法有局限性。

還有一種結合測量方法，如對比文獻CN1064945A的中國申請所公開的方法，它是一般進行結合測量的方法和裝置，具體是涉及通過測量由測量系統中的一個或多個標記化合物的發光而測定有意義的被分析物，該方法是利用電化學發光常規技術而改進的結合測定方法和裝置。雖然申請者利用該方法通過測量細胞表面抗原，來檢測痕跡微生物的可能性，但由于該結合測量的方法步驟多、影響因素多。真正用來檢驗微生物的污染難以實現，同時該方法并未給出實施例。

本發明的目的是為了克服上述已有技術的缺點和不足，為了適應工業生產的需要，可直接用在啤酒、飲料、牛奶、制藥生產線上和水的監測中，邊生產邊檢驗提高生產效率和保證產品的質量。從而提供一種加電壓于盛有被測液體樣品的測量容器內的一對電報上，通電幾秒鐘后斷電，并且邊加電壓邊利用單光子探測儀測量被檢樣品和對照樣品的電發光強度隨時間的變化，根據發光強度的差別得出該被檢樣品是否被微生物污染及污染的程度。

本發明的目的是這樣完成的：

該方法的第一步把電極準備好，常用的電極由銅、鋅、鉬、鉑、鈦、銀、鉻、錫、不銹鋼等金屬材料做成絲狀、螺旋狀、平板形電極，一般絲狀電極直徑為0.2mm-1.0mm，其長度為5mm-20mm；平板形電極面積可變，一般為1mm²-100mm²；電極使用前需徹底清洗干凈，以防不干凈帶給被測樣品污染。

第二步準備對照樣品和被檢樣品

首先將被檢樣品分成兩份，(如果是固體樣品須配成液體樣品，因為該方法只適與測液體樣品)，一份作為對照樣品，一份作為被檢樣品。對照樣品是用被檢樣品經過加熱消毒、或微孔濾膜過濾等方法把被檢樣品中微生物去除干凈作成的，然后備用；另一份被檢樣品用作好的對照樣品稀釋的而成，可把被檢樣品稀釋為兩種以上含微生物不同濃度的樣品，分別備用。

第三步測量