[發明專利]喇曼光譜測定儀和方法

無效

• 申請號: 95193313.2
• 申請日: 1995-05-15
• 公開（公告）號: CN1079533C
• 公開（公告）日: 2002-02-20
• 發明（設計）人: 丹尼爾·查爾斯·阿斯米爾;布芮達·阿謝克·伽拉;文森特·阿爾特·尼塞里
• 申請（專利權）人: 伊斯特曼化學公司
• 主分類號: G01J3/44
• 分類號: G01J3/44
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 程偉

1.一種可以測量并且補償在儀器中產生的變化的喇曼光譜測定儀，包括基本單色光的輻射源，其特征在于：

可同時用所述輻射接觸樣本和參考物質的裝置；

在多個波長處同時獲取所述樣本的卷積喇曼光譜和所述參考物質的卷積光譜的裝置；以及由所述卷積光譜和所述參考物質的標準光譜決定所述卷積光譜的卷積函數，并應用所述卷積函數來調整所述樣本的所述卷積喇曼光譜以由此產生所述樣本的標準喇曼光譜的裝置。

2.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的輻射源是激光器。

3.根據權利要求2所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的激光器是二極管激光器。

4.根據權利要求3所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的二極管激光器是多模二極管激光器。

5.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的樣本的卷積喇曼光譜包括所述參考物質的卷積喇曼光譜。

6.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的可以同時輻射接觸所述樣本和所述參考物質的裝置是光學探頭。

7.根據權利要求6所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的光學探頭包括至少有一根光纖。

8.根據權利要求7所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的光學探頭還包括一個放置所述參考物質的窗口或單元。

9.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的在多個波長處同時獲取所述樣本的卷積喇曼光譜和所述參考物質卷積喇曼光譜的裝置包括一個和多通道陣列探測器一起使用的攝譜儀。

10.根據權利要求9所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的多通道陣列探測器是一個光電二極管陣列，一個增強型光電二極管陣列，一個電荷耦合裝置，一個照相膠片，一個光導攝象管，或一個電荷注入裝置。

11.根據權利要求10所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的多通道陣列探測器是一個電荷耦合裝置。

12.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的在多個波長處同時獲取所述樣本的卷積喇曼光譜和所述參考物質卷積光譜的裝置包括帶有一個具有一系列窄縫的可移動屏蔽裝置的一個干涉儀或一個色散光譜儀。

13.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的用以確定所述卷積喇曼光譜的卷積函數并應用該卷積函數到所述樣本的卷積喇曼光譜以產生所述樣本的標準喇曼光譜的裝置包括一個傅立葉變換算法或一種迭代計算。

14.根據權利要求13所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的裝置包括一個傅立葉變換算法，該算法用于所述樣本的卷積喇曼光譜、所述參考物質的卷積光譜、以及所述參考物質的標準光譜。

15.根據權利要求1所述的喇曼光譜測定儀，還包括將輻射分成至少兩束光束的裝置。

16.根據權利要求15所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的用于將輻射分成至少兩束光束的裝置包括熔合的光纖光束分束器、棱鏡、或者半銀反射鏡。????

17.根據權利要求16所述的喇曼光譜測定儀，其中所述的光束分束器包括熔合的光纖光束分束器。

18.一種獲取樣本的標準喇曼光譜的方法，其特征在于包括以下步驟：

(a)用基本單色光輻射源同時輻射所述樣本和參考物質；

(b)同時在多個波長處獲取所述樣本的卷積光譜和所述參考物質的卷積光譜；

(c)選擇所述參考物質的標準光譜；

(d)由所述樣本的卷積喇曼光譜和所述參考物質的卷積光譜以及所述參考物質的標準光譜確定該卷積光譜的卷積函數；以及

(e)運用所述卷積函數來調整所述樣本的卷積喇曼光譜，以由此產生所述樣本的標準喇曼光譜。

19.根據權利要求18所述的方法，其中所述的輻射源是激光器。

20.根據權利要求19所述的方法，其中所述的激光器是二極管激光器。

21.根據權利要求20所述的方法，其中所述的二極管激光器是多模二極管激光器。