[實(shí)用新型]集成電路特征電阻微電腦測(cè)試裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 90205943.2
• 申請(qǐng)日: 1990-05-04
• 公開（公告）號(hào): CN2078447U
• 公開（公告）日: 1991-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 繆曉勝;戴其茅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江省瑞安市大華電子服務(wù)部;繆曉勝
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 溫州市專利事務(wù)所
• 代理人: 陳向東,陳繼興

本實(shí)用新型涉及一種微電腦控制的集成電路特征電阻測(cè)試裝置，適用于音頻視頻集成電路的檢測(cè)。

隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，民用四機(jī)中越來越多地采用了集成電路，在維修和使用集成電路時(shí)，需要一種具有適用型號(hào)廣泛的簡(jiǎn)易測(cè)試工具，但至今還沒有這類儀具問世，其原因是：

（1）民用音頻視頻集成電路品種達(dá)一千多種，功能各異。

（2）這類電路是模擬或模擬數(shù)字混合電路，測(cè)定性能要計(jì)量很多參數(shù)，而測(cè)定這些參數(shù)的儀器是工業(yè)生產(chǎn)專用的綜合設(shè)備，其復(fù)雜程度與昂貴價(jià)格遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出一般的使用場(chǎng)合。

因此，近年來已有較多文獻(xiàn)提出測(cè)量電路芯片每一引腳的對(duì)地電阻（稱為“特征電阻”）并與正常值比較的辦法來判斷電路好壞。由于集成電路損壞時(shí)，其有關(guān)引腳對(duì)地的體電阻（即特征電阻）必然呈現(xiàn)一定程度的變化，按大多數(shù)文獻(xiàn)介紹，誤差在10％以內(nèi)可判斷為好的?，F(xiàn)出版的采用該方法測(cè)試的集成電路直流數(shù)據(jù)手冊(cè)已有多種，涉及型號(hào)近千種。

特征電阻的測(cè)量一般用萬用表進(jìn)行，并要把每一腳數(shù)值與《手冊(cè)》對(duì)照，顯得十分煩瑣，使該方法在實(shí)用上受到限制。

本實(shí)用新型目的是基于特征電阻測(cè)量原理而提供一種價(jià)格低廉的便攜式測(cè)試儀具，測(cè)式速度二、三鈔鐘一片。

本實(shí)用新型的詳細(xì)技術(shù)內(nèi)容及其實(shí)施例結(jié)合附圖說明如下：

附圖1為本實(shí)用新型的主視圖。

附圖2為本實(shí)用新型電路框圖。

附圖3為實(shí)施例采樣電路原理圖。

本實(shí)用新型由主機(jī)、顯示器（6）及驅(qū)動(dòng)電路（7）、鍵盤（8）、采樣（14）及A／D轉(zhuǎn)換電路（15）、電子開關(guān)（2）陣列，斷電保護(hù)電路（17）及CMOS??RAM（5）等組成。

主機(jī)由單片機(jī)（3）（本實(shí)施例為MCS系列），地址鎖存器（16）（本實(shí)施例為74LS373），程序存儲(chǔ)器（4）（本實(shí)施例為2764）組成。

顯示器（6）采用5位LED數(shù)碼管，用動(dòng)態(tài)掃描方法驅(qū)動(dòng)。

鍵盤（8）是一個(gè)3×5鍵的小型鍵盤。共10個(gè)數(shù)字鍵，5個(gè)功能鍵。功能鍵分別為型號(hào)鍵（13），預(yù)置鍵（11），讀出鍵（9），測(cè)試鍵（10）和小數(shù)點(diǎn)鍵（12）。

采樣電路（14）由恒壓源VS，串聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)電阻RS，基準(zhǔn)電壓放大器K₁和采樣信號(hào)放大器K₂組成。K₁將VS放大后送至 A／D轉(zhuǎn)換器（15）作電壓基準(zhǔn)VR。VS通過串聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)電阻RS，再通過所選的電子開關(guān)通道（2），接至測(cè)試插座（1）上的被測(cè)集成電路的引腳。集成電路的地引腳則通過另一組開關(guān)（2）接至機(jī)內(nèi)地電平。這樣構(gòu)成了測(cè)試回路。RS的對(duì)地電壓即為采樣電壓VT，經(jīng)K₂放大后送至A／D轉(zhuǎn)換器（15）的輸入端。

A／D轉(zhuǎn)換器（15）采用單片逐位比較法A／D芯片。

電子開關(guān)由二組40路雙向模擬開關(guān)（2）組成。由二組此址鎖存器（16）分別選擇二個(gè)通道，各接至被測(cè)IC芯片的被測(cè)端和地引腳端。

測(cè)試時(shí)由主機(jī)控制選擇電子開關(guān)（2）的各通道分別接通被測(cè)IC的每一引腳，經(jīng)A／D轉(zhuǎn)換后主機(jī)采樣VT值，經(jīng)計(jì)算后即可得出該引腳的特征電阻RT。

斷電保護(hù)電路（17）由CMOS RAM（5）、斷電檢測(cè)電路及鈕扣電池組成。當(dāng)電源電壓下降至某一幅度（本實(shí)施例為4.5V），斷電檢測(cè)電路輸出立即由低電平翻轉(zhuǎn)至高電平，并封鎖住CMOSRAM的片選端CE，從而保護(hù)數(shù)據(jù)不被破壞。

本實(shí)用新型在監(jiān)控程序配合下可由鍵盤輸入所測(cè)芯片的型號(hào)值、引腳數(shù)及地引腳序號(hào)數(shù)。各引腳對(duì)地特征電阻的數(shù)值可由鍵盤（8）上輸入也可將標(biāo)準(zhǔn)芯片插在插座（1）上直接讀入。按測(cè)試鍵（10）后即可啟動(dòng)測(cè)試程序?qū)⒈粶y(cè)芯片所有引腳的特征電阻均測(cè)試一遍并和已存儲(chǔ)之正常值比較。根據(jù)誤差值是否在允許范圍之內(nèi)給出合格（Good）或不合格（Er）的顯示。

本實(shí)用新型主要用來測(cè)試各種音頻、視頻IC電路，也可測(cè)試其它各種IC電路。

本實(shí)用新型使特征電阻測(cè)試法具備了實(shí)用的必要手段。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小、造價(jià)低、使用簡(jiǎn)便、測(cè)試迅速，將為家電維修行業(yè)在使用集成電路時(shí)帶來便利。