[其他]具有聚(4-甲基-1-戊烯)底層的層合薄膜無效
| 申請號: | 88103178 | 申請日: | 1988-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN88103178A | 公開(公告)日: | 1988-12-28 |
| 發明(設計)人: | 量本博美 | 申請(專利權)人: | 三井石油化學工業株式會社 |
| 主分類號: | B32B27/32 | 分類號: | B32B27/32;B32B7/10 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 樊衛民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 甲基 戊烯 底層 薄膜 | ||
本發明涉及具有高的可熱合性且含聚(4-甲基-1-戊烯)基質的層合薄膜。
由于聚(4-甲基-1-戊烯)具有好的透明性,耐熱性、耐化學性等,已被用作實驗器皿,例如燒杯或量筒、注射器、光學測量儀所用的測定池、微波爐所用的托盤、含其涂覆紙的烘烤碳等。雖然聚(4-甲基-1-戊烯)具有高的熔點和好的耐熱性,但其缺點在干可熱合性差。改進這種可熱合性最常用的方法是用可熱合性好且熔點低的一種樹脂(例如聚乙烯或聚丙烯)層合聚(4-甲基-1-戊烯)。雖然聚(4-甲基-1-戊烯)和聚乙烯或聚丙烯都是聚烯烴,但它們不能互相粘合。因此,通過層合這些薄層生產的產品實際上不能使用。
另外,如果采用涂覆一層主要是聚氨酯的粘合劑作為粘合涂覆劑的方法使聚(4-甲基-1-戊烯)薄膜層合在聚乙烯薄膜上,其可熱合性不會大大地改善,這是因為聚(4-甲基-1-戊烯)薄膜的表明潤濕性差,因此,得到的層合薄膜的粘合強度低。
本專利申請的受讓人已遞交過一份日本專利申請N.59-1387(未審公告N.60-145844),該申請公開了一種具有改進的粘合強度和高的可熱合性的層合薄膜,其生成方法可以是使用一種特殊的丙烯和α-烯烴的無規共聚物作為層合聚(4-甲基-1-戊烯)薄膜和聚乙烯或聚丙烯薄膜的粘合層。
本申請的發明人現已發現,通過使用與本申請相同的受讓人遞交的日本未審專利公告N.60-166310所公開的特殊的α-烯烴共聚物作為粘合層的方法可使含聚(4-甲基-1-戊烯)底層的層合薄膜的粘合強度進一步得到提高。
因此,本發明的目的是提供一種改進的層合薄膜,該薄膜包括:
(A)基于4-甲基-1-戊烯的聚合物的底層;
(B)α-烯烴共聚物(含10~85摩爾%的丙烯,3~60摩爾%的1-丁烯和10~85摩爾%具有5個或更多碳原子的α-烯烴)的夾層,該夾層層合在上述底層的至少一個面上,上述共聚物的結晶度用X-射線衍射法測定為20%或更低;
(C)α-烯烴聚合物材料的可熱合層,該可熱合層貼合在夾層上,上述聚合物主要含具有2至4個碳原子的α-烯烴。
本發明的其它目的和優點可從下列具體描述明顯看出。
構成底層(A)的聚合物可以4-甲基-1-戊烯的均聚物或通常含85摩爾%或更多的4-甲基-1-戊烯和15摩爾%或更少的其它具有2至20個碳原子的α-烯烴(如乙烯、丙烯、1-丁烯、1-己烯、1-辛烯、1-癸烯、1-十四碳烯、1-十八碳烯等)的共聚物;基于4-甲基-1-戊烯的聚合物的熔體流速(MFR5;負載5公斤;260℃)宜為0.5至200克/10分鐘。熔體流速低于0.5克/10分鐘的聚合物具有高的熔體粘度,因此模塑性差;相反,熔體流速大于200克/10分鐘的聚合物具有低的熔體粘度,因此模塑性差且機械強度低。
構成夾層(B)的α-烯烴共聚物含10~85摩爾%,較好的為15~70摩爾%,更好的為25~55摩爾%的丙烯;3-60摩爾%,較好的為5~50摩爾%,更好的為10~40摩爾%的1-丁烯和10~85摩爾%,較好的為15~70摩爾%更好的為20~60摩爾%的α-烯烴,該烯烴具有5個或更多,較好的為6~12個碳原子。用X光衍射法測得該共聚物的結晶度為20%或更低,較好的為15%或更低,更好的為10%或更低。具有5個或更多碳原子的α-烯烴的例子可以是1-戊烯、3-甲基-1-丁烯、1-己烯、4-甲基-1-戊烯、3-甲基-1-戊烯、1-庚烯、1-辛烯、1-癸烯、1-十二碳烯等。
當α-烯烴共聚物中丙烯的含量低于10摩爾%或高于85摩爾%,1-丁烯的含量低于3摩爾%或高于60摩爾%,或α-烯烴的含量低于10摩爾%或高于85摩爾%時,對底層(A)的粘合強度會減弱。另外,用X-射線衍射法測得的結晶度高于20%的α-烯烴共聚物對底層(A)的粘合性也低。
在本發明中,用X-射線衍射法測定α-烯烴共聚物的結晶度的方法如下所述:
將試樣在280℃、30公斤/厘米2的條件下模塑10分鐘,在水冷壓機中(壓力30千克/厘米2)在23℃下冷卻5分鐘,然后模制試樣。用裝有旋轉陽極和銅靶的X-射線衍射儀(RU-300;Rigaku Denki K.K.)在5°~31°的衍射角(2θ)下測定試樣的X-射線衍射曲線。在6°和30°之間描制一根基線以劃分非結晶部分和結晶部分,根據重量百分率確定結晶部分。
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