[其他]一種中低阻直拉硅單晶的制備方法無效
| 申請號: | 88102558 | 申請日: | 1988-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN1004889B | 公開(公告)日: | 1989-07-26 |
| 發明(設計)人: | 李立本;闕端麟 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 浙江大學專利代理事務所 | 代理人: | 連壽金 |
| 地址: | 浙江省杭*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 中低阻直拉硅單晶 制備 方法 | ||
1、一種中低阻直拉硅單晶的制備方法,包括采用2″~4″直拉硅單晶的生長參數,晶體轉速12~45轉/分,坩堝轉速5~20轉/分,拉晶速度0.6~1.5毫米/分,以純度為99.99%的氮、氬或氮-氬混合氣作為保護氣體,爐內氣體壓力為10~50托,氣體流量為1.5~6m2/hr,其特征在于同時采用硅磷合金和硅銻合金為摻雜劑,制備電阻率為0.5~90Ω·cmN型直拉硅單晶。
2、根據權利要求1所述的方法,其特征在于所述的硅磷合金和硅銻合金摻雜劑的雜質濃度為1018~1020原子/立方厘米數量級。
3、根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于制備電阻率為0.5~10Ω·cm硅單晶,采用摻雜劑的雜質濃度為~1020cm-3;制備電阻率為10~50Ω·cm硅單晶,采用摻雜劑的雜質濃度為~1019cm-3;制備電阻率為50~90Ω·cm硅單晶采用摻雜劑的雜質濃度為~1018cm-3。
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