[其他]具有多層超導結構的電路及其制造方法無效
| 申請號: | 88102047 | 申請日: | 1988-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN88102047A | 公開(公告)日: | 1988-10-19 |
| 發明(設計)人: | 山崎舜平 | 申請(專利權)人: | 株式會社半導體能源研究所 |
| 主分類號: | H01L27/18 | 分類號: | H01L27/18;H01L21/70 |
| 代理公司: | 中國專利代理有限公司 | 代理人: | 肖掬昌,肖春京 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 多層 超導 結構 電路 及其 制造 方法 | ||
1、一種電路包括:一個襯底,在所述襯底上制備的超導陶瓷氧化物圖形和與所述超導圖形相接觸的非氧化膜。
2、權利要求1的電路,其中非氧化膜由耐熱絕緣材料制成。
3、權利要求2的電路,其中所述材料為氮化物。
4、權利要求2的電路,其中所述材料是氮化硅、氮化鋁或氮化鈦。
5、權利要求2的電路,其中所述材料為碳化物。
6、權利要求2的電路,其中所述材料為碳化硅或碳化鈦。
7、權利要求1的電路進一步包括一層氧化絕緣膜,在這層絕緣膜與所述超導圖形之間有一層非氧化膜,以防止氧化絕緣膜與超導圖形相接觸。
8、權利要求8的電路,其中所述襯底為半導體襯底,在襯底中至少形成一個半導體器件。
9、權利要求9的電路,其中所述圖形為超導連線。
10、權利要求1的電路,其中所述非氧化膜位于所述襯底與所述超導圖形之間。
11、權利要求1的電路,其中所述非氧化膜由以碳為主要成份的材料組成。
12、權利要求12的電路,其中所述碳為類金剛石結構碳。
13、權利要求12的電路,其中所述碳為金剛石。
14、權利要求12的電路,其中所述的碳含有氫。
15、權利要求12的電路,其中所述的碳含有不高于25原子%的鹵素。
16、權利要求12的電路,其中所述的碳含有不高于5原子%的氮。
17、權利要求12的電路,其中所述的碳含有不高于5原子%的三價或五價雜質。
18、權利要求1的電路,其中所述的圖形由按照化學式(A1-xBx)yCuzOw所確定的超導陶瓷制成的,其中,A為從周期表Ⅲa族中選出的一種或多種元素,B為從周期表Ⅱa族中選出的一種或多種元素,X=0~1;Y=2.0~4.0;Z=1.0~4.0;W=4.0~10.0。
19、權利要求21的電路,其中所述的陶瓷定義為YBa2Cu3O6-8。
20、權利要求1的電路,其中所述的圖形由按照化學式(A1-xBx)yCuzOw所確定的超導陶瓷制成,其中,A為從周期表Ⅴb族中選出的一種或多種元素,例如Bi、Sb和AS,B為從周期表Ⅱa族中選出的一種或多種元素,X=0.3~1;Y=2.0~4;Z=1.0~4.0;W=4.0~10.0。
21、一種電路包括:一個襯底,在所述的襯底上制備的超導陶瓷氧化物圖形,形成與所述的超導圖形相接觸的非氧化膜,其特征在于:所述的絕緣膜由非氧化材料組成。
22、權利要求21的電路,其中所述的陶瓷定義為BiSrCaCuCu2Ox,Bi4Sr3Ca3Cu4Ox,Bi4SryCa3Cu4Ox(Y約為1.5)Bi4Sr4Ca2Cu4Ox或Bi2Sr3Ca2Cu2Ox。
23、權利要求1的電路,其中所述的襯底為陶瓷襯底。
24、權利要求25的電路,其中所述的超導圖形直接在襯底上形成。
25、權利要求26的電路,其中所述的碳膜覆蓋住所述的超導圖形。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





