[其他]數字投影比長儀

無效

• 申請號: 87209334
• 申請日: 1987-06-19
• 公開（公告）號: CN87209334U
• 公開（公告）日: 1988-03-02
• 發明（設計）人: 周維興;武世福;王振權;張仲禮
• 申請（專利權）人: 東北師大科教儀器廠
• 主分類號: G09B23/22
• 分類號: G09B23/22
• 代理公司: 吉林省專利服務中心
• 代理人: 陳軍

本實用新型屬教學演示裝置。

近代物理實驗中光譜實驗是高教物理必搞的實驗。在這項實驗中，實驗室必備映譜儀，比長儀和測微光度計三種儀器，通過這項實驗來反映原子殼層結構的規律。

傳統的觀測光譜底片的方法是將光譜底片先后置于映譜儀，比長儀和測微光度計上，反復調整、觀測才能完成，由于底片多次移動，所測之值又是由被測譜線與標準譜線對照后憑目視讀出的，所以同一譜線的讀數值往往因人而異，即難以保證測量精度。又難以控制所測譜線的位置且在三臺機器之間往返輾轉操作復雜、費時費力。另外，對譜線的觀察是通過顯微鏡進行的，只能一人操作、觀測，不利于實驗教學。

本實用新型的任務是在比長儀的基礎上將上述三者的功能有機地結合于一體，變三機為一機，並且在譜片一次定位的情況下將其投影放大，利用光柵測距機構將其測量結果直接用數字顯示出來，從而使本實用新型具有操作簡單、測量精度高，演示效果好，省力省時，測量速度可提高3－4倍。

本實用新型是在比長儀的基礎上並結合映譜儀、測微光度計的特點將三者的功能有機地結合起來，該機在底片架的下端放一投影燈，物鏡的上端有一平面反射鏡，靠底片架的左側有一投影觀測屏，當按通電源時，投影燈的光線透過底片，穿過物鏡，平面反射鏡將物鏡投來的光線反射在投影觀測屏上，調整物鏡，使成像清晰。

本實用新型在投影觀測屏上有一可調狹縫，縫下有一光電池，光電池聯接一放大電路，該電路聯接一檢流計，通過光電流的大小可以判定譜線的中心，光電流的大小反映譜線的黑度值，光電流最小說明譜線中心正對狹縫、從而很容易解決一般比長儀找不準譜線中心的困難，由光電流的大小還可以比較兩條譜線的相對黑度值。

光柵測長技術是先進的數學化電子測長技術，本實用新型是把底片架與一臺光柵測長儀聯接，光柵測長儀與數字顯示儀聯接，通過投影定位，可以測量譜片上任意兩點之間的距離，并且有很高的測量精度（精度±0.005毫米）。由于使用數顯儀進行數字顯示，可以迅速而簡便地讀出六位數字，完全避免了以往比長儀上煩瑣的讀數所易造成的錯誤和螺距差。

本實用新型，接通電源后，先看觀測屏上的照度是否均勻，有無暗角，必要時可調整投影燈的安裝位置使之正常，即屏上各點都均勻照亮，且照度最大。這時將欲觀察的底片置于活動底片架上，位置擺正，調整物鏡，使成像清晰，再仔細調整底片架傾斜角，使要觀測的譜線與屏上基準線平行，將投影像與標準譜圖片對比。如發現放大倍率不合適，可調整平面反射鏡的高低，調整后，注意擺正反射鏡的角度，以便全屏成像一致清晰，再進行對譜工作。

如需測定波長或譜線間間隔，首先開啟數顯儀電源開關，此時數顯儀應有數碼顯示，左右移動底片架，數字應有變化，底片架移至選定的零點（可以選一條標準譜線與基準譜線對準），按一下數顯儀的“置0”按鈕，使數字顯示為全零，移動底片架待測譜線與基準線對準此時數顯儀上的示數即為待測譜線與零點的距離，測任意兩條譜線間的距離亦可仿此進行，為測準譜線的位置，在檢流計上找到光電流最小的底片架位置，此時數顯儀的讀數即為譜線的中心位置，而且，從檢流計上的讀數可以確定譜片上各處的相對透射光強，從而可以算出譜線的相對黑度，固定底片架，移動觀測屏使狹縫隨之左右移動，亦可測出像面上兩譜線的距離。

由于本實用新型采用了先進的數字化測長技術。因而節約了許多實驗室的建設投資，避免了觀察顯微鏡的視力疲勞，便于數師講解光譜細節與觀測方法，提高了測量精度和速度。

本實用新型的測量精度：±5微米、測量速度6米／秒。

本實用新型的附圖為數字投影比長儀的外型結構示意圖。其中1、狹縫部份、2、機體、3、光柵、4、平面反射鏡、5、罩蓋、6、立柱、7、物鏡部份、8、底片架、9、投影燈。

本實用新型最好的實施方式是投影燈功率為100瓦，狹縫寬度為0～2毫米，檢流計為毫安電流計，影象放大倍率為20±1，光柵采用JI₁型光柵。