[其他]殼體底腳孔位置度測量裝置無效
| 申請號: | 87202597 | 申請日: | 1987-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN87202597U | 公開(公告)日: | 1988-01-06 |
| 發明(設計)人: | 張直;薛曉菊 | 申請(專利權)人: | 張直 |
| 主分類號: | G01B5/14 | 分類號: | G01B5/14 |
| 代理公司: | 兵器工業部專利代理事務所 | 代理人: | 王以化 |
| 地址: | 陜西省西安*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 殼體 底腳孔 位置 測量 裝置 | ||
本實用新型是關于采用機械機構為特征的測量裝置,特別涉及一種用于測量相隔孔位置度的測量裝置。
該技術領域殼體底腳孔位置度測量裝置是電機殼體機械加工行業渴望要解決的課題。在現有專利文獻中,美國專利文獻US-4327493公開了平行軸孔徑間距的測量方法及其裝置,日本專利文獻JP58-3403公開了孔間距測量裝置。在現有技術中,實際測量是在平板上用小千斤頂把殼體頂起,調整被測件的底平面與平板垂直,其基準軸心線與平板平行,再用游標高度尺測量各相隔孔位置度。測量軸向相對尺寸時,把殼體的端平面置于平板上用游標高度尺測量。二個人以上每測量一個殼體,一般需1小時,并且只能按產品數量的1%~5%抽查,其測量效率低。采用兩點邊緣測量,使用低精度常用量具,測量誤差大,其軸向測量誤差>0.1毫米。
鑒于上述已有技術現狀,本實用新型的目的是設計一種殼體底腳孔位置度測量裝置,來克服以上不足,使其操作簡便、省時、省力和提高測量精度,對電機、泵體、風機和輪機迥轉機殼(或整機)的底腳孔位置度進行測量。
本實用新型的技術方案如下附圖所示:
圖1表示殼體底腳孔位置度測量裝置的正視示意圖。
圖2表示該測量裝置的俯視示意圖。
圖3表示該測量裝置的左視半剖和局部剖面示意圖。
圖4表示該測量裝置以止口公共軸心線〈2〉為基準和以止口端面〈3〉為基準的測量方法局部示意圖。
圖5表示電機總裝配后整機以轉子軸心線為基準時,底腳孔位置度測量左視局部斷面示意圖。
圖1,2和4中的定位圓柱4,6為公共基準孔的定位,依被測基準孔軸心線的高度,借助左右滑塊2,7上下移動其上端刻度對準左右立柱1,5側面相應刻線1a,5a。用T型螺釘11,16,螺帽12,17(圖2)使左右滑塊2,7與左右立柱1,5相固定。左立柱1固定在底座9上。右立柱5可左右移動,使左右立柱1,5內側距離足以容納下被測殼體3,再用T型螺釘,螺帽18固定在底座9的T型槽19上,使其保持與底座9垂直。靠板8與右立柱5的底座用T型螺釘20,螺帽21相固緊(圖3),保持與側板13垂直。靠板8a為測量輔助基準,D/2,H,H1和d/2計算基本尺寸H2,由此再推算出H2的上下偏差,用此公差帶制作極限量規,用該量規判斷H是否合格。因被測殼體的型號(大小)不同,除與底腳孔3a相配的錐度塞規22下部尺寸(圖4中〈1〉)改變外,H尺寸不同,而要改變錐度塞規22的上部直徑d尺寸,使其保持H2的尺寸不變,即只用一付極限量規測量幾個型號的產品。由于底腳孔的實際尺寸的變化,錐度塞規22的下部(插入部)制成錐形,其上部制成圓柱形。為了使錐度塞規插入底座9,制有長槽通孔15,可多制幾個以適應不同型號的殼體。
圖2和4中側板13固定在立柱5的底部。側板13的側面13a是被測殼體端面輔助基準,測量時使被測殼體的端面緊靠側板的側面13a。由H4(已知端面至孔中心距)和d/2計算出H3的基本尺寸和極限偏差,用極限量規或帶游標卡尺測量H3的尺寸,判斷是否合格。
圖2和5中左右側板10,14分別用螺釘安裝在立柱1和5上,根據所測電機軸的大小,可上下移動左右側板10,14,并固定,使刀刃面10a和14a靠緊軸外徑。左右側板10,14是基準為軸(或整機有軸伸出部位)的定位,如圖5〈2〉中使垂直側板10的刀刃面10a與軸23的右端外圓相切,從d1/2,H,H5和d/2尺寸計算出H6尺寸,變化H5,使H6=H2尺寸。由于H5的變化,必須事先上下調整側板10,14,使相應H5測量刃在被測基準軸23的中心高度處,再使其與右立柱5固緊。同時,圖5〈1〉中使右側板14的刀刃面14a靠緊軸肩面23a。對徑向,軸向的測量步驟與基準為孔時相同。
以上是以小型電機殼體為例進行圖例說明,對于中大型殼體,其裝置為分離體,底座為中大型平板,其余為組件,與平板不固定(如用高度劃線尺和以上的定位件、量規進行組合)測量時殼體放于平板上,移動組件即可。
本實用新型由于采用上述結構與現有技術比較所具有的優點和積極效果如下:
1.對《形位公差》孔的位置度測量中,它是三基面體系同時建立模擬法定位為主,以極限法最后判斷的一種綜合裝置。
2.在使用狀態下測量反映尺寸真實,誤差小。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于張直,未經張直許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/87202597/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





