[其他]微電子電路的接合方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 87101985 | 申請日: | 1987-03-20 |
| 公開(公告)號: | CN87101985A | 公開(公告)日: | 1987-10-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬丁·伯克;德特勒夫·坦布林克 | 申請(專利權(quán))人: | 舍林股份公司 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H05K3/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 聯(lián)邦德*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微電子 電路 接合 方法 | ||
1、電解淀積鋁層在微電子電路的接合中的使用。
2、按照權(quán)利要求1所述的電解淀積鉛層的使用,其特征在于:用上述鋁層覆蓋在導(dǎo)電層上并在覆蓋了適合的保護層后進行腐蝕。
3、按照權(quán)利要求1所述的電解淀積鉛層的使用,其特征在于:用敷鍍金屬、真空蒸發(fā)或陰極濺射的辦法在電路基板上形成一層導(dǎo)電金屬層,通過電鍍工藝在金屬層上淀積一層鋁層,然后在覆蓋上適合的保護層后進行腐蝕。
4、按照權(quán)利要求1所述的電解淀積鋁層的使用,在產(chǎn)生了導(dǎo)體線路將焊區(qū)以外的硅片鈍化,并用鋁的電鍍層加厚焊區(qū)。
5、按照權(quán)利要求1所述的電解淀積鋁層的使用,其特征在于:用電鍍鋁層覆蓋住中間基片,然后進行腐蝕。
6、按照權(quán)利要求1所述的電解淀積鋁層的使用,其特征在于:在對基片化學(xué)敷鍍金屬之后,加一層具有光電結(jié)構(gòu)的聚酰亞胺層,以使鋁僅電解淀積在鍵合區(qū)和/或?qū)w線路上需要焊料阻擋層的地方。
7、按照權(quán)利要求1至6所述的電解淀積鋁層的方法制出的半導(dǎo)體。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





