[其他]雙差式反射率透射率計

無效

• 申請號: 86206193
• 申請日: 1986-08-23
• 公開（公告）號: CN86206193U
• 公開（公告）日: 1987-07-08
• 發明（設計）人: 孫成亮;龍干云;張繼成
• 申請（專利權）人: 湖南省技術物理研究所
• 主分類號: G01J3/36
• 分類號: G01J3/36
• 代理公司: 湖南省專利服務中心
• 代理人: 羅建民

本實用新型屬于光譜測量儀器，是關于反射率透射率的測量計。

一類已經公知的反射透射率測量儀器是利用“光強法”。即先測光源直接射來的光強，再測經試件反射或透射后的光強，后者與前者之比即得結果。但這類儀器的缺點是需要穩定光強，因此測量精度低，長期劣于0.1％。

另一類已知的這種測量儀器是利用“差動法”。用這種方法制成的透反儀測量精度達0.05％，工作波段達可見區——近紅外區的寬光譜區，但這類儀器每測量一個值，光接收器分別旋轉在二個不同的位置受光，入射在接受器表面的光斑位置在水平方向上完全反向。即所謂的“光斑反演”，造成測量誤差較大。特別是在測量試件高反射率時更甚。同時，這種儀器的“介質膜半反片”在各個波長處不能做到半分，兩束光通量在不同波長處差別很大，橋路輸出電壓難于正比于兩光通量之比，所以雖是差動原理，但只能差動掉一部分，故不能完全克服需要穩光強的缺點，檢測件和平衡電阻箱都采用高精度的精密電阻箱，測量值要輸入計算系統以獲得結果，增加了成本。另外，在光源能量變低的情況下，影響測量的進行。

本實用新型的目的是要克服上述儀器的缺點，進一步改善儀器的性能，提高儀器的精確度，擴大儀器的測量的光譜區，降低儀器的制造成本。

本實用新型主要是對差動式透反儀從以下幾個方面進行改進：

1、用空間式分束鏡取代介質膜半反片，以使在任何波長處都能使光束得到半分，獲得兩束光通量相等的光束，空間式分束鏡是中間開有一孔的光學鏡片，其孔的面積大小一般為檢測用光斑面積的一半，鏡片的其余部分鍍上鋁高反膜，光檢測光斑射到空間式分束鏡上時，適當調整光斑位置，就能使一半光通量穿過鏡片，另一半被反射，這樣便形成兩道光量完全相等的光束。

2、用平衡電位器代替高精密電阻箱，用帶有度盤的電阻組代替另一高精密的電阻箱，作為電補償器，在度盤上標有讀數作為測量的粗讀值；而用經過專門定標，線性精度和重復精度高，重新刻度的檢流計代替工作零平衡觀察用的檢流計，檢流計標尺上讀數為測量的精讀值。這樣既提高了儀器的測量精度，又降低了儀器的制造成本。

3、采用紫外增強型光伏探測器，以擴寬儀器的測量光譜區，能測量紫外光——可見光——近紅外光。

4、在雙通道的橋路中，分別采用相等的低放大倍數的微電流放大器以保證在光能量較低的情況下，儀器也能夠正常使用，使儀器的性能得到完善。

圖1是本實用新型的原理圖。圖中有平衡電位器（4），帶有粗讀度盤（6）的電阻組（5），測量探測器（3），平衡探測器（7），中間帶有通孔的空間分束鏡（1），測量前，通過調節的電阻組（5）使之為某一定值，調節分光器出縫（圖3中的（16）），適當選用放大器（8、11）的放大倍數和調節平衡電位器（4），利用檢流計（9）使標尺（10）里的光斑確定光束00′的能量相當于標尺（10）的格數，來確定標尺（10）每格的示值。正式測量時，試件（2）放入光路，測量探測器（3）接受反射的光，旋轉電阻組（5）的度盤（6）至某一數值時，檢流計標尺（10）里的光斑正好落在0至100的某一處，這時光學雙通道處在“零”狀態的差動平衡下，就可以從度盤（6）上得到精度為1％的粗讀值，而由于檢流計標尺（10）里的光斑并不落在零上，因此可認為是處于非零工作狀態，可從檢流計標尺（10）上的光斑顯示出光學雙通道的差示值，得到0.01％精度級的精讀值，這樣即得反射率和透射率的絕對值。為便于測準，進行重復測量時，只須將試件（2）多次放入，便可得一組重復測量的數據，這就克服了光斑反演帶來的誤差。

下面結合具體實施例，并參考附圖2、附圖3、附圖4對本實用新型作進一步的描述。

圖2是儀器的正視圖。

圖3是儀器的俯視圖。

圖4是圖2中A－A剖視圖。