[其他]新型光電絲徑測量儀無效
| 申請號: | 86204917 | 申請日: | 1986-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN86204917U | 公開(公告)日: | 1987-09-30 |
| 發明(設計)人: | 張冠申;郭履容;蘇顯渝;陳澤先 | 申請(專利權)人: | 四川大學 |
| 主分類號: | G01B21/10 | 分類號: | G01B21/10 |
| 代理公司: | 四川大學專利事務所 | 代理人: | 卿微 |
| 地址: | 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 新型 光電 測量儀 | ||
本實用新型屬于金屬絲徑測量儀器。
《1984年全國光電技術及系統學術討論會論文集》中題為“固體攝象器件在精密測量中的應用”一文報道了一種利用激光衍射原理測量細絲直徑的系統,它使用CCD器件作為光電轉換元件,由計算機處理數據,按衍射公式求出直徑,對直徑在50-500μm范圍的細絲,測量精度優于10-3。由于該系統采用了探測單元數較多的高分辨率的CCD器件,且電路比較復雜,因而造價較昂貴。另外國內外雖有可對紡織纖維直徑進行連續無損測量的儀器,如瑞士產的烏斯特儀,但因它是電容式測量,所以不適用于測量能導電的金屬絲。由于這些原因,在金屬絲生產單位如鎢鉬絲廠,一般仍采用稱重法測量絲徑。即根據稱得的重量再按長度和比重折換成平均直徑的方法。這種方法是一種破壞性測量,必須將絲段剪下后才能進行,因而不能用于生產過程的實時在線檢測、控制生產流程。且由于稱重法繁瑣費時,對一段絲(如上萬米)直徑變化的統計測量(如測均值、方差)只能用很少的樣品(如頭、尾、中三個樣值)來代表,因而統計可靠性很差,這就會影響到細絲產品質量的評價。因此,生產和檢驗部門都需要一種高精度、無損、低成本的絲徑測量儀器。本實用新型解決了這個問題。
本實用新型的要點在于有一個激光衍射系統,在其后面有一個帶驅動電路的自掃描光電二極管陣列,此陣列對激光經細絲衍射所形成的光場進行采樣,并將光信號轉變成模擬電信號,二極管陣列的輸出連接到一個峰值保持電路,峰值保持電路的輸出端與一個模數轉換電路相連,由此對二極管陣列的各個光電探測單元的輸出進行量化,得到衍射場取樣點的測量值的數字信號Xi,i的取值為1、2、…K,K是二極管陣列光電單元的總數。將數字信號Xi輸入計算機,出兩個相鄰衍射極小之間的間距M,按衍射公式算出細絲直徑d之值:
d=λf/M
其中λ是激光波長,f是衍射系統中透鏡的焦距。由于生產現場可容納測量儀器的空間狹窄并且灰塵較多,為了適應在線檢測,激光衍射系統采用反折光路,使儀器更加緊湊,并將激光衍射系統、二極管陣列、峰值保持電路和模數轉換電路都安裝在封閉的機殼內。機殼的前部為細長柱形,在其前上方開有一個方槽,測量時,被測細絲從槽內通過,槽的兩側用玻璃窗密封,以免灰塵污染光學元件。
附圖1是一種新型光電絲徑測量儀示意圖。
附圖1所示測量儀的激光衍射系統由激光器1、兩個全反射鏡2和3、直角棱鏡4、裝在可換支架7上的透鏡6和光欄8組成。激光器1和兩個反射鏡2、3形成棱鏡4的入射光路,透鏡6在棱鏡4的出射光路上,帶驅動電路10的二極管陣列9置于透鏡6的焦平面上,且垂直于機殼的開槽方向。光欄8在透鏡6與陣列9之間,激光器1可采用2mW氦氖激光器、其光束透過機殼14的方槽側面的玻璃窗5照射細絲15產生衍射,在透鏡6的后焦面得到衍射圖樣,二極管陣列9如CL-32(探測單元數為32,單元間距為90μm)測得衍射光場。為了提高測量精度,二極管陣列位于衍射圖樣的高衍射級次區域。峰值保持電路11對陣列9輸出的脈沖型光電信號的脈沖峰值強度作保持展寬,供給模數轉換電路12進行模數轉換,模數轉換電路可采用ADC0804。由計算機13先測定接近二極管陣列中心的衍射極大值,找出該極大值兩側的兩個極小值所對應的光電單元序號M1和M2,由(M2-M1)。△求得這兩個極小的間距,其中△是二極管陣列的兩個相鄰單元的間距,并由(M2.△+S0)/(M2-M1).△定出M2所對應衍射極小的級次K(S0是陣列的第一個單元到衍射圖樣中心的距離),對M2及相鄰單元的測值再用樣條函數插值法計算第K級極小到陣列第一單元的準確距離MK.△和兩極小的準確間距M=(S0+MK.△)/K。其中MK是由插值法求出的第K級極小精確對應的光電單元序號數,由衍射公式d=λf/M求得直徑,然后將一段絲上各點測得的絲徑結果存放于計算機內存中,計算出該段絲徑的統計指標(如均值、方差)。若加上適當的控制電路,則可對生產過程進行自動控制。
本實用新型利用低分辨光電器件。實現了絲徑高精度測量,連續動態測量精度優于10-3,用作靜態測量時,精度可優于10-4,且儀器結構合理、操作簡單、制作成本低廉,特別適用于10μm至數百μm的金屬絲生產實時在線檢測和檢驗部門用作靜態檢測,也適用于其它類型的細絲檢測。
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