[其他]簡便型微機磁柵數顯高度測量儀

無效

• 申請號: 86202502
• 申請日: 1986-04-18
• 公開（公告）號: CN86202502U
• 公開（公告）日: 1987-07-08
• 發明（設計）人: 郁興中;吳雨林;劉堅偉
• 申請（專利權）人: 上海市機床研究所
• 主分類號: G01B21/16
• 分類號: G01B21/16;G01B21/00
• 代理公司: 上海市專利律師事務所
• 代理人: 王贛生,陳衛東

用于計量高度、厚度、直徑和相隔物體或孔徑的間距或間隙；國際分類號：GOIB21／16。

參考的技術資料：

1.GB（11）2055205，（43）2／1981，（72）Shigeo????Miyamoto。

2.GB（11）2094980A，（43）9／1982，（72）Siegfried????Gruhler。

3.GB（11）2106251A，（43）4／1983，（72）Hiroshi????Yamashiro等

4.US（11）3924337，（45）12／1975，（76）James.L.Taylor。

5.US（11）4129949，（45）12／1978，（75）Robert????P。

Callaghan????Jr.，Westerly。

6.US（11）4187612，（45）2／1980，（73）Brown????＆????Sharpe????Manufacturing????Company。

7.Us（11）4238887，（45）12／1980（76）John????Mclaughlin。

8.Brown????＆????Sharpe????Manufacturing????Company????1982

MICRO－－HITE????樣本

9.瑞士華嘉有限公司????????TESA－－MICRO????Hite????樣本

10.瑞士????TRIMOS，Vertical????automatic

數顯高度測量儀和垂直度測量儀樣本

11.Mahr????Digital????Height????Measuring????Instruments

Digimar????樣本

12.日本SONY????Digital????Height????Gauge????H－Series

樣本（1980????11.Ax－158－a－OB）

眾所周知，早期的高度測量裝置，以機械結構為主，其測試計量功能有限，一般用于單一目的，如長度、厚度、寬度的計量、其計量精度也受到制造技術的限制。由于電子技術，特別是微電子技 術和微機技術的廣泛應用，高度計量技術與之相互結合，產生了許多新一代多功能的高度測量儀。上述列舉的專利項目和1980年以來各國公司最新產品樣本的介紹，體現了這一技術的發展趨勢和當今高度測量儀的技術水平。

我國工業生產中，目前普遍采用的高度測量裝置多數還是游標讀數的機械式高度尺，近年來也出現了一些國外引進的數顯高度尺，還有少量高性能的帶有微機數顯及打印裝置的高度測量儀。由于機械游標式的高度尺已不能完全適應現代工業生產的技術需要；近年來出現的數顯高度尺雖有操作簡便，讀數直觀的優點，但其功能和精度與多功能的高度測量儀相比，還有較大差距。而近年來引進的帶微機數顯的高度測量儀，功能多、精度高，多數采用光柵或容柵作為檢測元件，但其整體結構復雜，價格昂貴，對環境要求高，在我國普及推廣有較大困難；有的還由于不能直接測出曲線或圓弧的最高或最低點而不受用戶歡迎，有的雖有如上功能，但結構更加復雜，成本也隨之提高。

為此，本實用新型的目的在于設計出一種簡便型微機數顯高度測量儀，使之具有與先進的高度測量儀相似的功能和相近的精度，同時又能用于直接、簡便、快速地測出曲線或圓弧的最高或最低點位置及它們相對尺寸；能用于恒速恒力矩機動測量，又能用于手動快速測量；還能自動消除測量力對測量精度的影響，具有較優的性能價格比。