[其他]空氣折射率測量裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 86107252
• 申請日: 1986-10-21
• 公開（公告）號: CN86107252B
• 公開（公告）日: 1988-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 侯文玫;裘惠孚
• 申請（專利權(quán)）人: 北京機(jī)械工業(yè)管理學(xué)院分部
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45;G01B9/02
• 代理公司: 冶金專利事務(wù)所
• 代理人: 吳甘棠,侯文泰

1、一個測量空氣折射率的裝置，它包括一個塞曼雙頻激光干涉儀和一個楔形真空腔，干涉儀的兩個光臂分別通過真空腔內(nèi)外，其特征在于：a、真空腔9的一個端面與腔體軸線，也就是光線相傾斜。b、真空腔裝在可以使真空腔沿楔角θ的角平分線方向，同時也就是垂直于光線的X方向精密移動的導(dǎo)軌上。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于兩個端面都相對于入射線成傾斜。

3、根據(jù)權(quán)利1、2所述的裝置，其特征在于兩個端面相對于入射線傾斜的角度分別為30°。

4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于反射鏡10固定于真空腔后，并安置得使通過真空腔內(nèi)外的光線成對稱。