[其他]物質、材料和物體的特性鑒定和檢驗的方法和裝置無效
| 申請號: | 86105818 | 申請日: | 1986-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN86105818A | 公開(公告)日: | 1987-06-10 |
| 發明(設計)人: | 斯維恩·奧托·凱恩斯諾;珀-厄里克·諾戴爾 | 申請(專利權)人: | 凱諾股份公司 |
| 主分類號: | G01N25/00 | 分類號: | G01N25/00 |
| 代理公司: | 上海專利事務所 | 代理人: | 吳淑芳 |
| 地址: | 挪威特羅姆瑟90*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物質 材料 物體 特性 鑒定 檢驗 方法 裝置 | ||
本發明涉及用于用于物質和材料以及與此有關的物理和化學性質的因數的特性鑒定和檢驗的方法和裝置。通過在物體內激發瞬時熱波并測量由此引起的物體熱輻射的變化,本發明就可能最全面地作完全不接觸的、如上所述的特性鑒定和檢驗,對于可作比較的已有技術來說,它有重大的改進。
具有一定溫度的所有實體或物品都發射熱的電磁輻射。對于理想黑體來說,在波長入,在波長間隔d入內,每單位面積發射的功率由普朗克輻射定律給出:
其中T是物體的溫度,h是普朗克常數,k是布爾茲曼常數,c是光速;W(入)稱為物體的光譜輻射出射能,對于在室溫(T=300k)的物體,公式(1)給出在中紅外光譜范圍內接近10μm波長處具有一個極大值的發射光譜。如果溫度上升,光譜的分布將按照公式(1)變化,而光譜的極大值位置入極大將向著短波方向位移;對于T>4000k,入極大
接近或處在可見光范圍。該位移由韋恩位移定律描述,可得到一令人滿意的近似值:
T·λmax=2897,9 K μm,(2)
它能從公式(1)推導出來。
不是理想黑體的物體可以將一個有效發射率ε(T,入)≤1乘以由公式(1)給出的W(入)來描述,從而得到一個良好的近似值。在波長間隔入1≤入≤入2內,不是黑體的物體每單位面積發射功率由
給出,對于小的溫度變化δT,每單位面積內輻射功率的變化是
由于ε(T,入)一般說來是一個還取決于物體的幾何形狀的非常復雜的函數,因此公式(4)通常不能以解析形式表示。
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