[其他]短脈沖太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86101321 | 申請(qǐng)日: | 1986-03-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN86101321A | 公開(公告)日: | 1987-10-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃嘉豫;張克農(nóng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/36 | 分類號(hào): | G01R31/36 |
| 代理公司: | 西安交通大學(xué)專利事務(wù)所 | 代理人: | 徐文權(quán) |
| 地址: | 陜西省西安市*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 脈沖 太陽電池 測(cè)試 裝置 技術(shù) 方案 | ||
1、一種太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案,先測(cè)定太陽電池[2]的暗特性[13]和串聯(lián)電阻RS值,據(jù)此確定在光照下太陽電池[2]的伏安特性[15],進(jìn)而求出各種電性能參數(shù),本發(fā)明的特征是采用攝影萬次閃光燈或同類短脈沖燈[7]作為測(cè)試光源,只利用發(fā)出的光脈沖的峰值來測(cè)定太陽電池[2]的開路電壓VOC和短路電流ISC來間接測(cè)定串聯(lián)電阻RS值,整個(gè)測(cè)試過程和數(shù)據(jù)處理可用單板微機(jī)[6]完成。
2、按權(quán)利要求1所述的太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案,其特征在于用一個(gè)自動(dòng)掃描電源〔1〕作為測(cè)量暗特性〔13〕的電源,測(cè)得太陽電池〔2〕不受光照時(shí)伏安特性即暗特性〔13〕,并將各數(shù)據(jù)存貯在微機(jī)〔6〕內(nèi)。
3、按權(quán)利要求1或2所述的太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案,其特征在于采用攝影萬次閃光燈或同類短脈沖燈〔7〕發(fā)出的光脈沖的峰值來測(cè)定太陽電池〔2〕的開路電壓VOC和短路電流ISC,當(dāng)自動(dòng)掃描變化的電子負(fù)載〔8〕迅速由開路掃描到短路或相反時(shí),開路電壓VOC和短路電流ISC分別由二個(gè)采樣保持器〔9〕和〔10〕取出,又分別經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器〔11〕和〔12〕輸入微機(jī)〔6〕,令微機(jī)〔6〕找出太陽電池〔2〕的暗特性〔13〕上電流值等于短路電流ISC時(shí)的端電壓值VD,根據(jù)公式RS=VD-VOC/ISC進(jìn)行運(yùn)算,求出串聯(lián)電阻RS值,并存貯待用。
4、按權(quán)利要求3所述的太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案,其特征是設(shè)置微機(jī)〔6〕計(jì)算程序,將暗特性〔13〕上每一點(diǎn)(Vd,Id)值替換成(Vd,ISC-Id)值,得出暗特性〔13〕的倒置曲線〔14〕,緊接著再將此倒置的暗特性〔14〕上每一點(diǎn)(Vd,ISC-Id)值替換成(Vd-ISCRS,ISC-Id)值,即轉(zhuǎn)換得所求光照下太陽電池〔2〕的伏安特性〔15〕,也可設(shè)置程序?qū)堤匦浴?3〕上每一點(diǎn)(Vd,Id)值替換成(Vd-ISCRS,Id)值,得出所求光照下太陽電池〔2〕的伏安特性〔15〕的倒置曲線,緊接著再將此倒置曲線上每一點(diǎn)(Vd-ISCRS,Id)值替換成(Vd-ISCRS,ISC-Id)值,也可轉(zhuǎn)換得所求光照下的伏安特性〔15〕。
5、按權(quán)利要求4所述的太陽電池測(cè)試裝置技術(shù)方案,其特征是為了保證測(cè)試精度,將太陽電池〔2〕經(jīng)一小阻值取樣電阻〔3〕與一可調(diào)穩(wěn)壓電源〔16〕相并接,可調(diào)穩(wěn)壓電源〔16〕調(diào)到太陽電池〔2〕工作點(diǎn)附近所需電壓值,太陽電池〔2〕受短脈沖燈〔7〕照射后,從取樣電阻〔3〕上即得到該點(diǎn)電流訊號(hào),送入微機(jī)〔6〕,微機(jī)〔6〕按所設(shè)順序?qū)⒃擖c(diǎn)實(shí)測(cè)得電流訊號(hào)與轉(zhuǎn)換得光照下太陽電池〔2〕的伏安特性〔15〕上對(duì)應(yīng)于同一點(diǎn)的電流值相比較,如超出,則立即發(fā)出重測(cè)一次的指令。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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