[其他]熔融聯接光纖的方法

無效

• 申請號: 85109701
• 申請日: 1985-12-16
• 公開（公告）號: CN85109701A
• 公開（公告）日: 1986-07-30
• 發明（設計）人: 渡邊興;大里和邦;山田剛;鈴木功
• 申請（專利權）人: 藤倉電線株式會社
• 主分類號: G02B6/38
• 分類號: G02B6/38;H05B7/18
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 劉建國

本發明涉及熔融聯接接單模光纖的方法，特別是包括使用顯微鏡使單模光纖的芯對準中心，和通過電弧放電實現芯的熔融聯接。

使用顯微鏡熔融聯接光纖的常規方法包括下述步驟：把一對需要熔融聯接的單模光纖放在一對端面支撐部件的V型坡口中，使光纖的外露部分彼此接近;使一個光源位于光纖接界處的下面，一個光源位于接界處的側面;把由光源所得到的兩個光纖影像，即當光纖在X方向被照明時接收到的光纖影像信號IMx1和當光纖在X方向被照明時得到的光纖影像信號IMx2，提供給一個數據處理機，以確定該成對光纖的相對錯位;使在V型坡口上放有對接光纖的支撐部件移動到與該相對錯位一致的程度，從而對準光纖芯的中心，通過位于光纖對接處兩側面的一對電極產生電弧，實現光纖對接處的熔融聯接。在這種情況下，如圖1所示，當光纖在X方向被照明時所得到的兩根光纖的每一個影像IMx1和IMx2都包括一個沿兩側邊延伸的暗區A，一個夾在平行暗區A之間的亮區B，以及兩條通過亮區B筆直延伸的平行的較暗線C。當光纖在Y方向被照明時，雖然圖中沒有畫出，但所成影像是相同的。所以在掃描線SL₁和SL₂上，影像IMx和IMy具有圖2所示的亮度水平。區域A和B是由光纖的圓柱形結構造成的透鏡效應所產生的;在兩個平行線C之間確定的區域表示光纖的芯。

當影像IMx1和IMx2的線C調節對準以后，兩根光纖的芯即對準中心。然而，在對準中心時，當外來物質（例如灰塵）落在光纖的外露部位時，光纖影像IMx1和IMx2即出現噪聲。在這種情況下，光纖影像IMx1和IMx2中對應于光纖芯的軸向邊緣的兩條平行線C變得模糊不清，結果不能精確對準兩根光纖的中心。大多數外來物質是落在光纖外部的原始纖維涂層材料的殘余物。清除這些殘余物的常規程序是用一塊浸過酒精的紗布清洗光纖表面。然而這種常規程序不能完全洗凈光纖表面。如果摩擦用力過大，光纖表面將被損壞，這樣就可能減小光纖的機械強度。

落在光纖上的灰塵的另一種來源是空氣中浮游的極小的外來物質。對于直徑一般為幾個微米的單模光纖來講，在空氣中浮游的、直徑大于10微米的微小粒子，大大降低了兩根光纖芯的對準中心的精度。為解決這些問題，通常的方法是用超聲波進行清洗。然而，這需要一個超聲波清洗器，它增加了制造光纖的成本。

本發明正是考慮到上述情況而研究的，目的是提供一種通過熔融聯接把單模光纖相聯的方法，這種方法還可以有效地并且無損傷地清除光纖表面的灰塵。

根據本發明提供一種熔融聯接光纖的方法，它包括下述步驟：

將兩根光纖調節對準并通過一對放電電極之間產生的電弧放電實現上述光纖的熔融聯接，其中在上述對接光纖的對接處施加一個放電功率，小于熔融聯接該光纖所施加的功率，用以燒去沉積在對接處附近光纖上的灰塵。

圖1表示準備通過熔融聯接相聯的一對光纖;

圖2表示圖1影像上橫向的不同亮度等級;

圖3示意表示通過熔融聯接組成光纖的裝置;

圖4是圖3裝置的一部分;

圖5和圖6表示安裝在光纖兩側的、每側一個的一對放電電極。

現在參考圖3至圖6對本發明熔融聯接光纖的方法進行說明。如圖3和圖4所示，本發明的方法包括下述步驟：把一對單模光纖10₁和10₂放在端面支撐部件20₁和20₂的V型坡口中，使光纖10₁、10₂的外露部分彼此接近。圖3是只表示光纖10₁和支撐部件20₁的此裝置的Z方向視圖。