[其他]產(chǎn)生運動信號的方法和實現(xiàn)此方法的中分辨紅外X射線斷層照相裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 85109632
• 申請日: 1985-12-18
• 公開（公告）號: CN85109632A
• 公開（公告）日: 1986-07-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 德克·布伊克曼;托馬斯·希爾澤爾;彼得·羅希曼
• 申請（專利權(quán)）人: 菲利浦光燈制造公司
• 主分類號: A61B5/05
• 分類號: A61B5/05;G01N24/08
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 吳秉芬,黃向陽

1、用一個MRIx射線斷層照相裝置產(chǎn)生取決于被檢驗人體運動的運動信號的方法，其特征是，在檢驗時，高頻線圈系統(tǒng)(33；34)的阻抗在諧振頻率范圍內(nèi)被測量，其磁場作用在被檢驗人體(3)上并調(diào)諧到預(yù)定諧振頻率，于是形成由測量信號導(dǎo)出的運動信號。

2、實現(xiàn)權(quán)利要求1中所述的方法的一個MRI??x射線斷層照相裝置，包括第一高頻線圈系統(tǒng)（4），用于產(chǎn)生含有拉莫爾頻率的高頻磁場并接收自旋共振信號，其特征是，為產(chǎn)生運動信號，還具有第二高頻線圈系統(tǒng)（33;34），其阻抗由阻抗測量裝置（35，46）來測量。

3、按照權(quán)利要求2所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，第二高頻線圈系統(tǒng)（33;34）調(diào)諧到實際上偏離質(zhì)子諧振頻率的一個諧振頻率，它最好是顯著地高于雜子的諧振頻率。

4、按照權(quán)利要求2或3所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，第二高頻線圈系統(tǒng)（33;34）要設(shè)置得使其產(chǎn)生的磁場至少要基本上垂直于第一個高頻線圈系統(tǒng)（4）的磁場。

5、按照權(quán)利要求2到4的任一個所要求的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，第二個高頻線圈系統(tǒng)（33;34）以這這樣一種方式包括在一個濾波器裝置（36……39）中，使得第一高頻率圈系統(tǒng)被第二個高頻線圈系統(tǒng)提取的能量盡可能小。

6、按照權(quán)利要求2到5的任一個所要求的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，具有一個開關(guān)裝置（可能為），此裝置在第一個高頻線圈系統(tǒng)產(chǎn)生磁場時止住運動信號。

7、按照權(quán)利要求2到6的任一個所要求的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，第二個高頻線圈系統(tǒng)（33）機械地剛性連接到第一個頻線圈系統(tǒng)，或是易滑動的在一個平面上。

8、按照權(quán)利要求2到6的任一個所要求的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，可把第二個高頻圈系統(tǒng)（34）離開第一高頻線圈系統(tǒng)獨立地放置。

9、實現(xiàn)權(quán)利要求1所述方法的一個MRI??x射線斷層照相裝置，包括一個用于測量高頻線圈系統(tǒng)阻抗的阻抗測量裝置，該系統(tǒng)用于產(chǎn)生高頻磁場并接收自旋共振信號，其特征是，阻抗測量裝置（12，15，16;35，46，可能為）在檢驗人體（3）時被開動，于是產(chǎn)生的測量信號被用作為運動信號。

10、按照權(quán)利要求9所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，阻抗測量裝置在高頻線圈系統(tǒng)（4）（圖2所示）產(chǎn)生高頻磁場時被開動。

11、按照權(quán)利要求10所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，阻抗測量裝置（12）被做成一個反射計連接在高頻線圈系統(tǒng)（4）和高頻發(fā)生器（10）之間，高頻發(fā)生器（10）向高頻線圈系統(tǒng)（4）輸送信號。

12、按照權(quán)利要求9所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，高頻線圈系統(tǒng)（4）通過一個開關(guān)裝置（9），于開關(guān)第一位置連到高頻發(fā)生器（10）;于開關(guān)第二位置連到接收機（11），以便接收自旋共振信號;于開關(guān)第三位置連到阻抗測量裝置（15，16），在檢驗時開關(guān)裝置也處于其第三個位置，阻抗測量裝置當(dāng)連接到高頻線圈系統(tǒng)時是可開動的。

13、按照權(quán)利要求12或權(quán)利要求2到8的任一個所要求MPI??x射線斷層照相裝置，其特征是，阻抗測量是在偏離自旋共振頻率的一個頻率上進行的。

14、按照權(quán)利要求9所述的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，阻抗測量裝置是在高頻線圈系統(tǒng)的第二個諧振率測量阻抗的，這個頻率實際上高于自旋信號的頻率。

15、按照權(quán)利要求2或4到14的任何一個所要求的MRI??x射線斷層照相裝置，其特征是，阻抗測量裝置測量高頻線圈系統(tǒng)（4;33，34）阻抗所用的測量頻率，要稍微偏離開高頻線圈系統(tǒng)的諧振頻率。