[其他]用放射線分析測定物組分的方法無效
| 申請號： | 85107357 | 申請日： | 1985-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN85107357A | 公開（公告）日： | 1986-10-15 |
| 發明（設計）人： | 田村順一;原亮一;安倍文彥;小相沢久 | 申請（專利權）人： | 古河電氣工業有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/02 | 分類號： | G01N23/02 |
| 代理公司： | 上海專利事務所 | 代理人： | 王樹儔 |
| 地址： | 日本東京都千*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 放射線 分析 測定 組分 方法 | ||
【權利要求書】：
1、一種用放射線來分析被測光學纖維基材料的方法，其包括以下步驟：用放射線發生裝置產生的放射線照射到包含多種元素或物質組成的組份上，由基材料上發射的透射線射到多個單晶體，產生幾種特定能量的透射線，并用放射線檢測裝置測定該放射線，以分析上述基材料組成元素的組份。
2、根據權利要求1所述的方法，其中，在照射放射線時，對測定物或放射線中的任一個掃描。
3、根據權利要求1所述的方法，其中，用多個由我種閃爍計數管構成的檢測器檢測多種透射線。
4、根據權利要求3所述的方法，其中，所述的檢測器，采用碘化鈉（NaI）作為閃爍體。
5、根據權利要求3所述的方法，其中，所述的檢測器，采用碘化銫（CSI）（T1）、碘化鉀（KI）（T1），或碘化鋰（LII）（T1）作為閃爍體。
6、根據權利要求3所述的方法，其中，在放射線透射后，即放射線射入并透過被測基材料，也就是透射線射入單晶體，然后，衍射波射入檢測器。
7、根據權利要求3所述的方法，其中，放置兩個單晶體中的一個以產生滿足勞厄（Laue）條件需要的能量，并調整另一個單晶體，使該單晶體有一角度，從而滿足布喇格（Bragg）條件，產生需要的能量。
8、根據權利要求3所述的方法，其中，能量光譜分析包括一系列的例如勞厄和布喇格，勞厄-勞厄，布喇格-布喇格，以及布喇格-勞厄的組合。
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