[其他]用放射線分析測定物組分的方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85107357
• 申請(qǐng)日: 1985-09-28
• 公開（公告）號(hào): CN85107357A
• 公開（公告）日: 1986-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 田村順一;原亮一;安倍文彥;小相沢久
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 古河電氣工業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/02
• 分類號(hào): G01N23/02
• 代理公司: 上海專利事務(wù)所
• 代理人: 王樹儔

1、一種用放射線來分析被測光學(xué)纖維基材料的方法，其包括以下步驟：用放射線發(fā)生裝置產(chǎn)生的放射線照射到包含多種元素或物質(zhì)組成的組份上，由基材料上發(fā)射的透射線射到多個(gè)單晶體，產(chǎn)生幾種特定能量的透射線，并用放射線檢測裝置測定該放射線，以分析上述基材料組成元素的組份。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在照射放射線時(shí)，對(duì)測定物或放射線中的任一個(gè)掃描。

3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，用多個(gè)由我種閃爍計(jì)數(shù)管構(gòu)成的檢測器檢測多種透射線。

4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，所述的檢測器，采用碘化鈉（NaI）作為閃爍體。

5、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，所述的檢測器，采用碘化銫（CSI）（T1）、碘化鉀（KI）（T1），或碘化鋰（LII）（T1）作為閃爍體。

6、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，在放射線透射后，即放射線射入并透過被測基材料，也就是透射線射入單晶體，然后，衍射波射入檢測器。

7、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，放置兩個(gè)單晶體中的一個(gè)以產(chǎn)生滿足勞厄（Laue）條件需要的能量，并調(diào)整另一個(gè)單晶體，使該單晶體有一角度，從而滿足布喇格（Bragg）條件，產(chǎn)生需要的能量。

8、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，能量光譜分析包括一系列的例如勞厄和布喇格，勞厄-勞厄，布喇格-布喇格，以及布喇格-勞厄的組合。