[其他]估計一個儲油層中至少兩層地層的滲透性及表層系數的方法

無效

• 申請號: 85107122
• 申請日: 1985-09-25
• 公開（公告）號: CN85107122A
• 公開（公告）日: 1987-04-08
• 發明（設計）人: 菲克里·庫丘;盧斯·C·艾斯塔蘭恩
• 申請（專利權）人: 施盧默格海外有限公司
• 主分類號: E21C45/00
• 分類號: E21C45/00
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 曹永來

1、一個測井試驗方法在一個至少兩層其厚度分別為h₁及h₂的儲油層中單一地估計每層的滲透性及表層系數，其特征為其步驟包括，

將一測井系統的測井工具放入一貫穿兩夾層的鉆井內并放置在上層的頂部，該測井系統的裝置可測量下孔流體流量和壓力對時間的函數，

在第一個時間間隔里，從初始時間t₁的初始流量改變其表面流量，

在第一個時間間隔里，t₁至t₂，在上層頂部測量及記錄下孔流體流量q₁(t)及下孔壓力p₁(t)，

在下層頂部放置該測井工具，

在時間t₃時，測量及記錄在下層頂部的流量q₁(t₃)，

在時間t₃時，將表面流量改變至另一流量，

在第二個時間間隔里，t₃至t₄，在底層頂部測量及記錄下孔流體流量q₂₂(t)及下孔壓力p₂(t)，

確定以下函數k及s，其中

k=(k₁h₁+k₂h₂)/h_t

h_t=h₁+h₂

s=(q₁₁s₁+q₂₁s₂)/q₁

式中k₁是上層的滲透性

k₂是下層的滲透性

q₂₂=q₁-q₁₂

利用測量的下孔壓力改變，Δp₁(t)=p₁(t₁)-p₁(t)配合測量的流體流量的卷積及一影響函數Δp_sf(t)，該函數為結合層的滲透性k及表層系數s所組成之函數，

利用將測量的流體流量q₂₂(t)配合測量的下孔壓力的改變

Δp₂(t)=p₁(t₃)-p₂(t)的卷積及影響函數f(t)去確定底層的滲透性k₂及表層系數s₂，該函數為底層滲透性k₂及表層系數s₂所組成的函數，及

從k₂、s₂、k及s的估值去確定k₁及s₁。

2、權利要求1的方法，其特征為影響函數ΔP_sf（t）是

其中μ是儲油層流體粘度，厘泊

φ是儲油層孔隙度，分數

r_w是鉆井半徑

Ei是指數積分